Zaawansowane wyszukiwanie
  Strona Główna » Sklep » DTP Design » Moje Konto  |  Zawartość Koszyka  |  Do Kasy   
 Wybierz kategorię
Algorytmy Wzorce UML
Bazy danych
Bezpieczeństwo
Bioinformatyka
Biznes Ekonomia Firma
Chemia
DTP Design
E-biznes
Ekonometria
Elektronika Elektrotechnika
Energetyka
Fizyka
GIS
Grafika użytkowa
Hardware
Informatyczne systemy zarządzania
Informatyka w szkole
Języki programowania
Matematyka
Multimedia
Obsługa komputera
Office
Poradniki
Programowanie gier
Programy inżynierskie
Programy matematyczne
Słowniki
Serwery
Sieci komputerowe
Systemy operacyjne
Technika
Telekomunikacja
Tworzenie stron WWW

Zobacz pełny katalog »
 Wydawnictwo:
 PWN
Teoria chaosu dla odważnych

Teoria chaosu dla odważnych

49.90zł
Ogólnopolskie Wystawy Znaków Graficznych 49.00zł
Ogólnopolskie Wystawy Znaków Graficznych

Tytuł: Ogólnopolskie Wystawy Znaków Graficznych
Autor: Wawrzkiewicz Rene, Hardziej Patryk
ISBN: 978-83-65271-09-9
Ilość stron: 256
Data wydania: 04/2016
Oprawa: Miękka
Format: 24.0x16.1
Wydawnictwo: Karakter
Cena: 49.00zł


Blisko siedemset najlepszych polskich logotypów – tak z okresu PRL-u, jak i współczesnych!

Logo to jeden z podstawowych elementów komunikacji wizualnej. Abstrakcyjne symbole, plastyczne metafory i graficzne skróty są jak litery graficznego systemu językowego, w którym jak w soczewce skupia się historia danego społeczeństwa i kraju.

Ta książka to przegląd najwybitniejszych dokonań polskich twórców w dziedzinie projektowania logo, a zarazem konfrontacja prac powstałych blisko pół wieku temu z tymi używanymi obecnie. Książka składa się z dwóch części; każda zawiera 335 znaków graficznych. Pierwsza część to ikoniczne projekty z lat 1945–1969 (m.in. CPN-u, Mody Polskiej, PKO BP), natomiast druga przedstawia współczesne znaki, powstałe w latach 2000–2015. Razem tworzą unikatową całość, wyjątkową prezentację rozmaitych form, jakie przybiera polskie logo.

Rene Wawrzkiewicz – projektant, researcher, kurator wystaw poświęconych dizajnowi. Absolwent Akademii Sztuk Pięknych w Warszawie. Organizator projektów poświęconych projektowaniu zaangażowanemu społecznie. Kurator 2. Ogólnopolskiej Wystawy Znaków Graficznych. Współzałożyciel Pracowni Krytyki Dizajnu – pierwszego polskiego think tanku zajmującego się kulturą dizajnu w Europie Środkowej. Mieszka w Warszawie.

Patryk Hardziej – ilustrator i projektant grafik. Wykonuje projekty z zakresu ilustracji, brandingu, projektowania logo, komunikacji wizualnej, grafiki edytorskiej, a także projekty artystyczne. Mieszka w Gdańsku. Pomysłodawca i kurator 2. Ogólnopolskiej Wystawy Znaków Graficznych.

Ogólnopolskie Wystawy Znaków Graficznych
--- Pozycja niedostępna.---
Klienci, którzy kupili „Ogólnopolskie Wystawy Znaków Graficznych”, kupili także:

NLP dla menedżera, David Molden, Wydawnictwo Onepress

The Smashing Book #2 Edycja polska, Praca zbiorowa, Wydawnictwo Helion
<b>Komputerowa edycja dokumentów dla średnio zaawansowanych</b>, <font color="navy">Andrzej Jacek Blikle, Jarosław Deminet</font>, <font color="green"> Wydawnictwo Helion</font>
Komputerowa edycja dokumentów dla średnio zaawansowanych, Andrzej Jacek Blikle, Jarosław Deminet, Wydawnictwo Helion

J2ME tworzenie gier, Janusz Grzyb, Wydawnictwo Helion

Budowa domu, Tadeusz Fijałkowski, Wydawnictwo WGP

Perełki programowania gier Vademecum profesjonalisty Tom 1, Mark DeLoura, Wydawnictwo Helion

Ocena i kontrola jakości wyników pomiarów analitycznych, Piotr Konieczka, Jacek Namieśnik, Wydawnictwo Naukowe PWN

Parowozy wąskotorowe produkcji polskiej, Bogdan Pokropiński, Wydawnictwo WKiŁ

Second Life Przewodnik gracza, Michael Rymaszewski, Wagner James Au, Mark Wallace, Catherine Winters, Wydawnictwo Helion

środa, 17 kwietnia 2024   Mapa strony |  Nowości |  Dzisiejsze promocje |  Koszty wysyłki |  Kontakt z nami