Zaawansowane wyszukiwanie
  Strona Główna » Sklep » Technika » Technika pomiarowa » Moje Konto  |  Zawartość Koszyka  |  Do Kasy   
 Wybierz kategorię
Algorytmy Wzorce UML
Bazy danych
Bezpieczeństwo
Bioinformatyka
Biznes Ekonomia Firma
Chemia
DTP Design
E-biznes
Ekonometria
Elektronika Elektrotechnika
Energetyka
Fizyka
GIS
Grafika użytkowa
Hardware
Informatyczne systemy zarządzania
Informatyka w szkole
Internet
Języki programowania
Matematyka
Multimedia
Obsługa komputera
Office
Poradniki
Programowanie gier
Programy inżynierskie
Programy matematyczne
Serwery
Sieci Firewalle Protokoły
Słowniki
Systemy operacyjne
Technika
  Aranżacja wnętrz
  Automatyka Robotyka
  Budowa maszyn
  Budownictwo
  Budownictwo lądowe
  Geologia Hydrologia
  Materiały inżynierskie
  Motoryzacja
  Ochrona środowiska
  Ogrzewanie Klimatyzacja
  Przemysł spożywczy
  Rysunek techniczny
  Spawalnictwo
  Technika
  Technika pomiarowa
  Technika wojskowa
  Tworzywa sztuczne
  Zarządzanie jakością
Telekomunikacja
Tworzenie stron WWW

Zobacz pełny katalog »
 Wydawnictwo:
 Prószyński i S-ka
Niezwykłe liczby profesora Stewarta

Niezwykłe liczby profesora Stewarta

42.00zł
33.60zł
Wzorcowanie aparatury pomiarowej Wydanie II 69.00zł 51.06zł
Wzorcowanie aparatury pomiarowej Wydanie II

Tytuł: Wzorcowanie aparatury pomiarowej Wydanie II
Autor: Janusz Piotrowski, Krystyna Kostyrko
ISBN: 978-83-01-17051-6
Ilość stron: 582
Data wydania: 11/2012 (wydanie 2)
Oprawa: Miękka
Format: 17.0x24.0cm
Wydawnictwo: Naukowe PWN
Cena: 69.00zł 51.06zł


Nowoczesne podejście do wymagań współczesnej metrologii!

We współczesnym świecie działalność człowieka staje się coraz bardziej uporządkowana. Dotyczy to także dziedziny pomiarów. Z jednej strony aparatura pomiarowa wskutek automatyzacji jest coraz bardziej skomplikowana i coraz droższa, ale o wiele prostsza w użytkowaniu. Z drugiej strony w celu obniżenia kosztów upraszcza się i modyfikuje czynności metrologiczne. W racjonalizacji pomiarów nie można jednak odejść od podstawowego wymagania, jakim jest zapewnienie jedności miar na świecie.

W podręczniku przedstawiono:
• aktualne wzorce pierwotne podstawowych jednostek miar, wzorce pomiarowe i badanie jednolitości miar;
• podstawowe pojęcia metrologii, procedury zapewnienia jedności miar, procedury wzorcowania przyrządów pomiarowych i badania aparatury pomiarowej;
• zasady tworzenia schematów sprawdzań wzorców i narzędzi pomiarowych;
• aspekty niepewności wyników pomiarów i procedur wyznaczania niepewności;
• wstępne opracowanie wyników kalibracji oraz procedury estymacji charakterystyk liniowych i nieliniowych, jedno- i wielowymiarowych przy różnych właściwościach błędów;
• badanie metod analitycznych oraz badania międzylaboratoryjne procedur wzorcowania;
• aspekty komputeryzacji procedur kalibracji i obsługi laboratorium;
• sprawdzanie (walidację) metod badania i wzorcowania;
• laboratoria akredytowane oraz zagadnienia prawnej kontroli metrologicznej i oceny zgodności;
• przykład księgi jakości laboratorium spełniającego wymagania normy PN-EN ISO/IEC 17025:2005.

W porównaniu do poprzedniego wydania w wielu rozdziałach wprowadzono zmiany i uzupełnienia. W rozdziale o jednostkach miar, wzorcach pomiarowych i badaniu jednolitości miar uwzględniono postęp prac nad ustanowieniem nowego (kwantowego) układu jednostek miar SI oraz kierunki prac prowadzonych nad realizacją nowych (kwantowych) etalonów. Opisano też komputerowe wspomaganie procedur wzorcowania. Dokonano aktualizacji przepisów prawnych i norm, co było szczególnie istotne przy omawianiu zasad i uwarunkowań badania biegłości laboratorium wzorcującego, które jest obecnie obwarowane nowymi przepisami i jest pod nadzorem organizacji międzynarodowych.

Książka jest adresowana zarówno do studentów uniwersytetów (na wydziałach fizyki i chemii), jak i politechnik, oraz do pracowników naukowych i inżynierów zajmujących się budową aparatury pomiarowej oraz jej stosowaniem we wszystkich dziedzinach od mechaniki, elektrotechniki po chemię fizyczną i analityczną.

Rozdziały:

1. Wprowadzenie
1.1. Procedury metrologiczne. 13
1.2. Praktyczne znaczenie kalibracji       20
1.3. Matematyczne podstawy kalibracji       23

2. Jednostki miar, wzorce pomiarowe i badanie jednolitości miar
2.1. Kreowanie wzorców jednostek podstawowych SI – stan obecny       27
2.2. Współpraca międzynarodowa nad zachowaniem jednolitości miar pod auspicjami Konwencji Metrycznej
2.3. Prace nad dokumentami podstawowymi dla rozwoju metrologii koordynowane przez Międzynarodowe Biuro Miar BIPM oraz komitet JCGM
2.4. Prace nad utworzeniem nowego (kwantowego) układu jednostek miar SI koordynowane przez Międzynarodowy Komitet Miar CIPM
2.5. Klasyfi kacja etalonów i wzorce       44
2.6. Realizacja etalonów jednostek podstawowych SI       46
2.7. Międzynarodowa współpraca metrologów koordynowana przez CIPM – w ramach porozumienia MRA o wzajemnym uznawaniu wzorców i świadectw, wyników kalibracji i pomiarów (CIPM-MRA)

3. Procedury zapewnienia jedności miar
3.1 Układy sprawdzań 92
3.2. Interpretacja układów sprawdzań 97
3.3. Optymalizacja układów sprawdzań       103
3.4. Warunki spójności pomiarowej pomiarów       107
3.5. Przykłady układów sprawdzań       111

4. Podstawowe pojęcia metrologii
4.1. Model matematyczny przyrządu       122
4.2. Matematyczny model błędów 126
4.3. Niedokładność wzorców i przyrządów       130
4.4. Defi nicje błędów       136
4.5. Analiza wariancji       146

5. Procedury wzorcowania przyrządów pomiarowych
5.1. Wprowadzenie 152
5.2. Procedury analityczne 156
5.3. Procedury kalibracji       160
5.4. Dobór parametrów procedur wzorcowania       167
5.5. Klasyfi kacja procedur kalibracji       172
5.6. Wzorcowanie rotametru – przykład       179
5.7. Standardowa metoda dodawania 194

6. Niepewność wyników pomiarów i procedury wyznaczania niepewności
6.1. Wprowadzenie 201
6.2. Ujednolicony system wyrażania niepewności       204
6.3. Wyrażanie niepewności w szczególnych przypadkach       214
6.4. Przykłady wyrażania i oceny niedokładności 217

7. Wstępne opracowanie wyników kalibracji
7.1. Wygładzanie sygnałów 234
7.2. Cenzurowanie wyników pomiarów       252
7.3. Uzupełnianie, normalizacja, standaryzacja i monodystansowanie wyników wzorcowania

8. Procedury estymacji charakterystyk
8.1. Liniowa charakterystyka przyrządu i stała wariancja błędów       272
8.2. Liniowa charakterystyka przyrządu, odchylenie standardowe błędów proporcjonalne do x
8.3. Liniowa charakterystyka przyrządu, odchylenie standardowe błędów zmienne
8.4. Wzorzec obarczony błędem       291
8.5. Procedury estymacji charakterystyk nieliniowych       296
8.6. Metoda regresji nieliniowej       304
8.7. Zalecenia praktyczne       307

9. Procedury estymacji odporne na błędy grube
9.1. Procedury cenzurowania przy estymacji charakterystyki       312
9.2. Estymacja odporna 314
9.2. Estymacja medianowa 319

10. Procedury estymacji charakterystyk wielowymiarowych
10.1. Wprowadzenie 328
10.2. Analiza planów eksperymentu kalibracji 331
10.3. Złożone metody regresji       342

11. Komputeryzacja procedur kalibracji i obsługi laboratorium
11.1. Kalibratory i przykłady stanowisk do wzorcowania 353
11.2. Komputerowa obsługa laboratorium 362
11.3. Przykład organizacji systemu komputerowej obsługi akredytowanego laboratorium wzorcującego

12. Sprawdzanie (walidacja) metod badania i wzorcowania
12.1. Ogólne zasady walidacji       397
12.2. Badania równorzędności metod pomiarowych       401
12.3. Badania odporności metod badawczych na czynniki zewnętrzne 404
12.4. Walidacja metod analitycznych       408
12.5. Wewnętrzna kontrola jakości w laboratorium analitycznym       419

13. Badania międzylaboratoryjne procedur wzorcowania
13.1. Podstawowe pojęcia       434
13.2. Przygotowanie programu testowania metody pomiarowej 436
13.3. Estymacja precyzji metody pomiarowej w warunkach odtwarzalności       442
13.4. Przykład estymacji precyzji metody pomiarowej w chemii analitycznej       456
13.5. Badanie biegłości       460

14. Laboratoria akredytowane, prawna kontrola metrologiczna i ocena zgodności
14.1. System prawnej kontroli metrologicznej oraz system oceny zgodności 478
14.2. System oceny zgodności przyrządów pomiarowych z wymaganiami Dyrektyw UE
14.3. Laboratoria wzorcujące i ich szczególne cechy       495
14.4. Zasady działania jednostek akredytujących laboratoria       499
14.5. Międzynarodowy nadzór i współpraca laboratoriów wzorcujących       503
14.6. Proces akredytacji laboratorium wzorcującego 507
14.7. Zakresy akredytacji i kompetencje techniczne laboratoriów wzorcujących       510
14.8. Systemy zarządzania (systemy jakości) laboratoriów wzorcujących.       522

Załącznik: Przykład Księgi Jakości Laboratorium spełniającego wymagania normy PN-EN ISO/IEC 17025:2005
Objaśnienia i uwagi wstępne       534
0. Prezentacja KJ 539
1. Defi nicje 540
2. Opis Laboratorium 543
3. Zarządzanie Laboratorium       545
4. System Zarządzania Jakością 549
5. Pomieszczenia i środowisko       554
6. Sprzęt badawczy i pomiarowy 556
7. Metody pracy laboratoryjnej       559
8. Tryb realizacji zamówień 561
9. Rozpatrywanie reklamacji 563
10. Prowadzenie i nadzorowanie dokumentacji 565
Procedura 01. Procedura zakupu i wprowadzenia do eksploatacji sprzętu badawczego i pomiarowego
Procedura 02. Procedura gospodarki sprzętem badawczym i pomiarowym 567
Procedura W1. Procedura wzorcowania 568
Słownik skrótów 571

Wzorcowanie aparatury pomiarowej Wydanie II
Tytuł książki: "Wzorcowanie aparatury pomiarowej Wydanie II"
Autor: Janusz Piotrowski, Krystyna Kostyrko
Wydawnictwo: Naukowe PWN
Cena: 69.00zł 51.06zł
Klienci, którzy kupili „Wzorcowanie aparatury pomiarowej Wydanie II”, kupili także:
<b>Inżynieria materiałowa Tom 1 + 2 KOMPLET</b>, <font color="navy">Michael Ashby, Hugh Shercliff, David Cebon</font>, <font color="green"> Wydawnictwo GALAKTYKA</font>
Inżynieria materiałowa Tom 1 + 2 KOMPLET, Michael Ashby, Hugh Shercliff, David Cebon, Wydawnictwo GALAKTYKA
<b>Tworzywa sztuczne tom 3 Środki pomocnicze i specjalne zastosowanie polimerów</b>, <font color="navy">Włodzimierz Szlezyngier, Zbigniew K. Brzozowski</font>, <font color="green"> Wydawnictwo Fosze</font>
Tworzywa sztuczne tom 3 Środki pomocnicze i specjalne zastosowanie polimerów, Włodzimierz Szlezyngier, Zbigniew K. Brzozowski, Wydawnictwo Fosze
<b>Tworzywa sztuczne tom 2 Polimery specjalne i inżynieryjne</b>, <font color="navy">Włodzimierz Szlezyngier, Zbigniew K. Brzozowski</font>, <font color="green"> Wydawnictwo Fosze</font>
Tworzywa sztuczne tom 2 Polimery specjalne i inżynieryjne, Włodzimierz Szlezyngier, Zbigniew K. Brzozowski, Wydawnictwo Fosze
<b>Metrologia</b>, <font color="navy">Władysław Jakubiak, Sławomir Zator, Paweł Majda</font>, <font color="green"> Wydawnictwo PWE</font>
Metrologia, Władysław Jakubiak, Sławomir Zator, Paweł Majda, Wydawnictwo PWE
<b>Podstawy metrologii i inżynierii jakości dla mechaników Ćwiczenia praktyczne</b>, <font color="navy">Stanisław Adamczak, Włodzimierz Makieła</font>, <font color="green"> Wydawnictwo WNT</font>
Podstawy metrologii i inżynierii jakości dla mechaników Ćwiczenia praktyczne, Stanisław Adamczak, Włodzimierz Makieła, Wydawnictwo WNT
<b>Wstęp do analizy błędu pomiarowego Wydanie 2</b>, <font color="navy">John R. Taylor</font>, <font color="green"> Wydawnictwo Naukowe PWN</font>
Wstęp do analizy błędu pomiarowego Wydanie 2, John R. Taylor, Wydawnictwo Naukowe PWN
 Koszyk
0 przedmiotów
Producent
Tu można zobaczyć wszystkie książki z wydawnictwa:

Wydawnictwo Naukowe PWN
 Kategoria:
 Windows 2012 serwer
Windows Server 2016 Inside Out Wyczerpujący kompletny przewodnik

Windows Server 2016 Inside Out Wyczerpujący kompletny przewodnik

149.00zł
119.20zł
Informacje
Regulamin sklepu.
Koszty wysyłki.
Polityka prywatności.
Jak kupować?
Napisz do Nas.
 Wydawnictwa
 Poradniki
Więcej niż C++ Wprowadzenie do bibliotek Boost Bjorn Karlsson HELION
Bezpieczeństwo sieci w Linuksie. Wykrywanie ataków i obrona przed nimi za pomocą iptables, psad i fwsnort Michael Rash HELION
Mathcad ćwiczenia wydanie II Jacek Pietraszek HELION
Informatyka Europejczyka Podręcznik dla szkół ponadgimnazjalnych. Zakres podstawowy (Wydanie II) Jarosław Skłodowski HELION
ArchiCAD 10 Karl Heinz Sperber HELION
Kwalifikacja EE.08. Montaż i eksploatacja systemów komputerowych, urządzeń peryferyjnych i sieci. Część 1. Urządzenia te Tomasz Kowalski, Tomasz Orkisz HELION
Pamięć genialna! Poznaj triki i wskazówki mistrza Dominic O'Brien Sensus
Chłodnictwo Technologia w piekarni Klaus Losche Naukowe PWN
Architektura systemów zarządzania przedsiębiorstwem Wzorce projektowe Martin Fowler HELION

poniedziałek, 23 lipiec 2018   Mapa strony |  Nowości |  Dzisiejsze promocje |  Koszty wysyłki |  Kontakt z nami