Autor: Praca zbiorowa
ISBN: 978-83-204-3353-1
Ilość stron: 576
Data wydania: 2007
Książka Współczesna metrologia. Zagadnienia wybrane jest pracą zbiorową 9 autorów i składa się z 7 rozdziałów - 1 wprowadzającego i 6 merytorycznych. Omówiono w niej ważne współczesne problemy metrologii: rolę metrologii w procesie poznania, ocenę niepewności pomiarów, metody planowania eksperymentów, sieci neuronowe i ich zastosowania w metrologii, interferometrię laserową oraz systemy pomiarowe. Informacyjne podejście do wszystkich tematów nadaje spójność tej monografii.
Wydobywanie i przetwarzanie ilościowej informacji o zjawiskach lub obiektach wchodzi w zakres technologii informacyjnej, współcześnie niesłychanie ważnej, biorąc pod uwagę rozwój techniki i edukacji społeczeństwa informacyjnego XXI w. Autorzy monografii wywodzą się z grona najwybitniejszych w kraju specjalistów z danej dziedziny, co stanowi gwarancję wysokiego poziomu naukowego dzieła (Politechnika Gdańska, Krakowska, Poznańska, Warszawska, Wrocławska, WAT).
Książka będzie użyteczna dla doktorantów, wykładowców uczelni technicznych, naukowców, inżynierów różnych branż techniki, a także studentów uczelni technicznych.
Rozdziały:
Rozdział 1. Wprowadzenie 1.1. Pomiar - nieodłączny element życia 1.2. Metrologia a miernictwo 1.3. Techniki pomiarowe wieku XX i początku XXI 1.4. Geneza monografii 1.5. Wybór tematyki monografii
Rozdział 2. Metrologia w procesie poznania 2.1. Wprowadzenie 2.2. Realia postrzeganej rzeczywistości 2.3. Opis cech materii 2.4. Zasada przyczynowości 2.5. Determinizm i indeterminizm 2.6. Elementy pojęciowe mechaniki kwantowej 2.7. Przyczynowość a indeterminizm w metrologii 2.8. Modelowanie i symulacja w procesie poznania 2.9. Proces poznawczy w metrologii 2.10.Zakończenie
Rozdział 3. Dokładność oceny niepewności i dokładność systemów pomiarowych 3.1. Dokładność oceny niepewności rozszerzonej 3.2. Dokładność systemów pomiarowych
Rozdział 4. Badania empiryczne - metodyka i wspomaganie komputerowe 4.1. Pojęcie i rola badań empirycznych 4.2. Elementy stosowanej teorii eksperymentu 4.3. Komputerowe wspomaganie planowania i analizy eksperymentu 4.4. Inteligentne systemy planowania eksperymentu
Rozdział 5. Sztuczne sieci neuronowe w metrologii 5.1. Wprowadzenie 5.2. Sieci jednokierunkowe terenowe z nauczycielem 5.3. Sieci samoorganizujące się 5.4. Sieci neuronowe rozmyte 5.5. Problemy implementacji VLSI sieci neuronowych 5.6. Przykłady zastosowań sieci neuronowych w metrologii 5.7. Wnioski końcowe
Rozdział 6. Wybrane problemy metrologii optoelektronicznej (polowa interferometria laserowa) 6.1. Wstęp 6.2. Zautomatyzowane metody analizy interferogramów 6.3. Systemy interferometryczne 6.4. Zintegrowane systemy pomiarowe 6.5. Koncepcja eksperymentalno-numerycznych metod hybrydowych 6.6. Podsumowanie
Rozdział 7. Systemy pomiarowe 7.1. Wstęp 7.2. Mikrosystemy 7.3. Rozproszone systemy pomiarowe 7.4. Internet w metrologii 7.5. Prognoza rozwoju Najniższa cena z 30 dni przed obniżką 59,54zł
Współczesna metrologia Zagadnienia wybrane
|