Zaawansowane wyszukiwanie
  Strona Główna » Sklep » Technika » Technika pomiarowa » Moje Konto  |  Zawartość Koszyka  |  Do Kasy   
 Wybierz kategorię
Algorytmy Wzorce UML
Bazy danych
Bezpieczeństwo
Bioinformatyka
Biznes Ekonomia Firma
Chemia
DTP Design
E-biznes
Ekonometria
Elektronika Elektrotechnika
Energetyka
Fizyka
GIS
Grafika użytkowa
Hardware
Informatyczne systemy zarządzania
Informatyka w szkole
Języki programowania
Matematyka
Multimedia
Obsługa komputera
Office
Poradniki
Programowanie gier
Programy inżynierskie
Programy matematyczne
Słowniki
Serwery
Sieci komputerowe
Systemy operacyjne
Technika
  Aranżacja wnętrz
  Automatyka Robotyka
  Budowa maszyn
  Budownictwo
  Budownictwo lądowe
  Geologia Hydrologia
  Materiały inżynierskie
  Motoryzacja
  Ochrona środowiska
  Ogrzewanie Klimatyzacja
  Przemysł spożywczy
  Rysunek techniczny
  Spawalnictwo
  Technika
  Technika pomiarowa
  Technika wojskowa
  Tworzywa sztuczne
  Zarządzanie jakością
Telekomunikacja
Tworzenie stron WWW

Zobacz pełny katalog »
 Wydawnictwo:
 MsPress
Zapytania w języku T-SQL w Microsoft SQL Server 2014 i SQL Server 2012

Zapytania w języku T-SQL w Microsoft SQL Server 2014 i SQL Server 2012

149.00zł
126.65zł
Współczesna metrologia Zagadnienia wybrane 73.50zł 59.54zł
Współczesna metrologia Zagadnienia wybrane

Autor: Praca zbiorowa

ISBN: 978-83-204-3353-1

Ilość stron: 576

Data wydania: 2007

Książka Współczesna metrologia. Zagadnienia wybrane jest pracą zbiorową 9 autorów i składa się z 7 rozdziałów - 1 wprowadzającego i 6 merytorycznych. Omówiono w niej ważne współczesne problemy metrologii: rolę metrologii w procesie poznania, ocenę niepewności pomiarów, metody planowania eksperymentów, sieci neuronowe i ich zastosowania w metrologii, interferometrię laserową oraz systemy pomiarowe. Informacyjne podejście do wszystkich tematów nadaje spójność tej monografii.

Wydobywanie i przetwarzanie ilościowej informacji o zjawiskach lub obiektach wchodzi w zakres technologii informacyjnej, współcześnie niesłychanie ważnej, biorąc pod uwagę rozwój techniki i edukacji społeczeństwa informacyjnego XXI w. Autorzy monografii wywodzą się z grona najwybitniejszych w kraju specjalistów z danej dziedziny, co stanowi gwarancję wysokiego poziomu naukowego dzieła (Politechnika Gdańska, Krakowska, Poznańska, Warszawska, Wrocławska, WAT).

Książka będzie użyteczna dla doktorantów, wykładowców uczelni technicznych, naukowców, inżynierów różnych branż techniki, a także studentów uczelni technicznych.

Rozdziały:

Rozdział 1. Wprowadzenie
1.1.  Pomiar - nieodłączny element życia
1.2.  Metrologia a miernictwo
1.3.  Techniki pomiarowe wieku XX i początku XXI
1.4.  Geneza monografii
1.5.  Wybór tematyki monografii

Rozdział 2. Metrologia w procesie poznania
2.1.  Wprowadzenie
2.2.  Realia postrzeganej rzeczywistości
2.3.  Opis cech materii
2.4.  Zasada przyczynowości
2.5.  Determinizm i indeterminizm
2.6.  Elementy pojęciowe mechaniki kwantowej
2.7.  Przyczynowość a indeterminizm w metrologii
2.8.  Modelowanie i symulacja w procesie poznania
2.9.  Proces poznawczy w metrologii
2.10.Zakończenie

Rozdział 3. Dokładność oceny niepewności i dokładność systemów pomiarowych
3.1.  Dokładność oceny niepewności rozszerzonej
3.2.  Dokładność systemów pomiarowych

Rozdział 4. Badania empiryczne - metodyka i wspomaganie komputerowe
4.1.  Pojęcie i rola badań empirycznych
4.2.  Elementy stosowanej teorii eksperymentu
4.3.  Komputerowe wspomaganie planowania i analizy eksperymentu
4.4.  Inteligentne systemy planowania eksperymentu

Rozdział 5. Sztuczne sieci neuronowe w metrologii
5.1.  Wprowadzenie
5.2.  Sieci jednokierunkowe terenowe z nauczycielem
5.3.  Sieci samoorganizujące się
5.4.  Sieci neuronowe rozmyte
5.5.  Problemy implementacji VLSI sieci neuronowych
5.6.  Przykłady zastosowań sieci neuronowych w metrologii
5.7.  Wnioski końcowe

Rozdział 6. Wybrane problemy metrologii optoelektronicznej (polowa interferometria laserowa)
6.1.  Wstęp
6.2.  Zautomatyzowane metody analizy interferogramów
6.3.  Systemy interferometryczne
6.4.  Zintegrowane systemy pomiarowe
6.5.  Koncepcja eksperymentalno-numerycznych metod hybrydowych
6.6.  Podsumowanie

Rozdział 7. Systemy pomiarowe
7.1.  Wstęp
7.2.  Mikrosystemy
7.3.  Rozproszone systemy pomiarowe
7.4.  Internet w metrologii
7.5.  Prognoza rozwoju


Najniższa cena z 30 dni przed obniżką 59,54zł

Współczesna metrologia Zagadnienia wybrane
Tytuł książki: "Współczesna metrologia Zagadnienia wybrane"
Autor: Praca zbiorowa
Wydawnictwo: WNT
Cena: 73.50zł 59.54zł
Klienci, którzy kupili „Współczesna metrologia Zagadnienia wybrane”, kupili także:
<b>Pośladki w górę! Kompleksowy trening i praktyczna wiedza</b>, <font color="navy">Kasia Bigos</font>, <font color="green"> Wydawnictwo Septem</font>
Pośladki w górę! Kompleksowy trening i praktyczna wiedza, Kasia Bigos, Wydawnictwo Septem

A może zmienisz zdanie? Sekrety perswazyjnego pisania, Lindsay Camp, Wydawnictwo Onepress

Wprowadzenie do automatyki, Włodzimierz Kwiatkowski, Wydawnictwo BEL Studio

KALENDARZ - Informator samochodowo-motocyklowy 2012, Praca zbiorowa, Wydawnictwo WKiŁ

Prowadzenie warsztatów szkoleniowych Podręcznik trenera biznesu, Jarosław Holwek, Wydawnictwo Onepress

Warszawa rzecz o motoryzacji i nie tylko..., Tomasz Szczerbicki, Wydawnictwo Vesper

Kosmos Wielki atlas wszechświata, Praca zbiorowa, Wydawnictwo Buchmann

Naprawa i konserwacja elementów maszyn, urządzeń i narzędzi Kwalifikacja M.20.4 Podręcznik do nauki zawodów, Janusz Figurski, Stanisław Popis, Wydawnictwo WSiP

Podstawy analizy środowiskowej wyrobów i obiektów, Jan Górzyński, Wydawnictwo WNT

piątek, 29 marca 2024   Mapa strony |  Nowości |  Dzisiejsze promocje |  Koszty wysyłki |  Kontakt z nami