Autor: Praca zbiorowa

ISBN: 978-83-204-3353-1

Ilość stron: 576

Data wydania: 2007

Książka Współczesna metrologia. Zagadnienia wybrane jest pracą zbiorową 9 autorów i składa się z 7 rozdziałów - 1 wprowadzającego i 6 merytorycznych. Omówiono w niej ważne współczesne problemy metrologii: rolę metrologii w procesie poznania, ocenę niepewności pomiarów, metody planowania eksperymentów, sieci neuronowe i ich zastosowania w metrologii, interferometrię laserową oraz systemy pomiarowe. Informacyjne podejście do wszystkich tematów nadaje spójność tej monografii.

Wydobywanie i przetwarzanie ilościowej informacji o zjawiskach lub obiektach wchodzi w zakres technologii informacyjnej, współcześnie niesłychanie ważnej, biorąc pod uwagę rozwój techniki i edukacji społeczeństwa informacyjnego XXI w. Autorzy monografii wywodzą się z grona najwybitniejszych w kraju specjalistów z danej dziedziny, co stanowi gwarancję wysokiego poziomu naukowego dzieła (Politechnika Gdańska, Krakowska, Poznańska, Warszawska, Wrocławska, WAT).

Książka będzie użyteczna dla doktorantów, wykładowców uczelni technicznych, naukowców, inżynierów różnych branż techniki, a także studentów uczelni technicznych.

Rozdziały:

Rozdział 1. Wprowadzenie
1.1.  Pomiar - nieodłączny element życia
1.2.  Metrologia a miernictwo
1.3.  Techniki pomiarowe wieku XX i początku XXI
1.4.  Geneza monografii
1.5.  Wybór tematyki monografii

Rozdział 2. Metrologia w procesie poznania
2.1.  Wprowadzenie
2.2.  Realia postrzeganej rzeczywistości
2.3.  Opis cech materii
2.4.  Zasada przyczynowości
2.5.  Determinizm i indeterminizm
2.6.  Elementy pojęciowe mechaniki kwantowej
2.7.  Przyczynowość a indeterminizm w metrologii
2.8.  Modelowanie i symulacja w procesie poznania
2.9.  Proces poznawczy w metrologii
2.10.Zakończenie

Rozdział 3. Dokładność oceny niepewności i dokładność systemów pomiarowych
3.1.  Dokładność oceny niepewności rozszerzonej
3.2.  Dokładność systemów pomiarowych

Rozdział 4. Badania empiryczne - metodyka i wspomaganie komputerowe
4.1.  Pojęcie i rola badań empirycznych
4.2.  Elementy stosowanej teorii eksperymentu
4.3.  Komputerowe wspomaganie planowania i analizy eksperymentu
4.4.  Inteligentne systemy planowania eksperymentu

Rozdział 5. Sztuczne sieci neuronowe w metrologii
5.1.  Wprowadzenie
5.2.  Sieci jednokierunkowe terenowe z nauczycielem
5.3.  Sieci samoorganizujące się
5.4.  Sieci neuronowe rozmyte
5.5.  Problemy implementacji VLSI sieci neuronowych
5.6.  Przykłady zastosowań sieci neuronowych w metrologii
5.7.  Wnioski końcowe

Rozdział 6. Wybrane problemy metrologii optoelektronicznej (polowa interferometria laserowa)
6.1.  Wstęp
6.2.  Zautomatyzowane metody analizy interferogramów
6.3.  Systemy interferometryczne
6.4.  Zintegrowane systemy pomiarowe
6.5.  Koncepcja eksperymentalno-numerycznych metod hybrydowych
6.6.  Podsumowanie

Rozdział 7. Systemy pomiarowe
7.1.  Wstęp
7.2.  Mikrosystemy
7.3.  Rozproszone systemy pomiarowe
7.4.  Internet w metrologii
7.5.  Prognoza rozwoju