Zaawansowane wyszukiwanie
  Strona Główna » Sklep » Hardware » Budowa komputera » Moje Konto  |  Zawartość Koszyka  |  Do Kasy   
 Wybierz kategorię
Algorytmy Wzorce UML
Bazy danych
Bezpieczeństwo
Bioinformatyka
Biznes Ekonomia Firma
Chemia
DTP Design
E-biznes
Ekonometria
Elektronika Elektrotechnika
Energetyka
Fizyka
GIS
Grafika użytkowa
Hardware
  BIOS
  Budowa komputera
  Naprawa Rozbudowa
  Pocket PC / iPod
Informatyczne systemy zarządzania
Informatyka w szkole
Internet
Języki programowania
Matematyka
Multimedia
Obsługa komputera
Office
Poradniki
Programowanie gier
Programy inżynierskie
Programy matematyczne
Serwery
Sieci Firewalle Protokoły
Słowniki
Systemy operacyjne
Technika
Telekomunikacja
Tworzenie stron WWW

Zobacz pełny katalog »
 Wydawnictwo:
 PWN
W poszukiwaniu zwinności w architekturze systemów IT

W poszukiwaniu zwinności w architekturze systemów IT

59.00zł
44.25zł
Testowanie i niezawodność systemów komputerowych 52.50zł
Testowanie i niezawodność systemów komputerowych

Autor: Janusz Sosnowski

ISBN: 83-87674-86-9

Ilość stron: 372

Data wydania: 06/2005

Twarda oprawa

Wiarygodność jest podstawowym wymaganiem dla współczesnych urządzeń i systemów komputerowych. Wymaganie to głównie sprowadza się do zapewnienia odpowiedniego poziomu niezawodności, dostępności, bezpieczeństwa i wydajności.

W osiągnięciu tego celu kluczową rolę odgrywają efektywne techniki: testowanie i diagnostyka układów oraz modułów sprzętu informatycznego, testowanie i niezawodność oprogramowania, techniki maskowania oraz tolerowania błędów sprzętu i oprogramowania. Omówiono zagadnienia od poziomu układów cyfrowych (procesory, pamięci itp.) poprzez poziom architektury do rozproszonych systemów komputerowych ze złożonymi technikami rekonfiguracji, zarządzania kopiami danych itp.

Dużo uwagi poświęcono analizie błędów, projektowaniu układów łatwo testowalnych i samotestowalnych, redundancji systemowej oraz programowym technikom tolerowania i obsługi błędów. Opisywane koncepcje są bogato ilustrowane praktycznymi przykładami i danymi z rzeczywistych systemów oraz projektów.

Książka "Testowanie i niezawodność systemów komputerowych" jest przeznaczona dla szerokiego kręgu odbiorców: naukowców, doktorantów i studentów związanych z informatyką oraz pokrewnymi dziedzinami techniki. Może być cennym źródłem wiedzy dla inżynierów zajmujących się projektowaniem i eksploatacją systemów informatycznych, telekomunikacyjnych, przemysłowych, elektronicznych itp.

Rozdziały:

Testowanie i diagnostyka sprzętu komputerowego

- Testowanie i niezawodność układów cyfrowych

- Modele błędów

- Koncepcje generacji testów

- Analiza sygnatur

- Techniki ułatwiające testowanie sprzętu

- Ścieżka krawędziowa

- Techniki BIST

- Testowanie procesorów

- Testowanie pamięci półprzewodnikowych

- Diagnostyka systemów komputerowych

Testowanie i niezawodność oprogramowania

- Metodyka testowania programów

- Złożoność oprogramowania oraz statystyki błędów

- Ocena jakości testowania poprzez analizy porównawcze

- Analiza pokrycia testów

- Modele niezawodności

Detekcja i tolerowanie błędów w czasie pracy systemu

- Redundancja układowa

- Redundancja informacyjna

- Redundancja programowa

- Algorytmy głosowania w systemach o podwyższonej wiarygodności

- Zintegrowane tolerowania błędów sprzętu i oprogramowania

- Strategie obsługi błędów

Metody ewaluacji wiarygodności

- Podstawowe modele analizy wiarygodności

- Badanie wiarygodności systemów poprzez analizę efektów błędów

- Zbieranie i analiza statystyk o błędach

Testowanie i niezawodność systemów komputerowych
--- Pozycja niedostępna.---
Klienci, którzy kupili „Testowanie i niezawodność systemów komputerowych”, kupili także:
<b>Profesjonalne testy penetracyjne. Zbuduj własne środowisko do testów</b>, <font color="navy">Thomas Wilhelm</font>, <font color="green"> Wydawnictwo HELION</font>
Profesjonalne testy penetracyjne. Zbuduj własne środowisko do testów, Thomas Wilhelm, Wydawnictwo HELION
<b>Nie bój się pochodnej</b>, <font color="navy">Jerzy Ginter</font>, <font color="green"> Wydawnictwo WNT</font>
Nie bój się pochodnej, Jerzy Ginter, Wydawnictwo WNT
<b>0x80 zadań z C i C++</b>, <font color="navy">Przemysław Koprowski</font>, <font color="green"> Wydawnictwo EXIT</font>
0x80 zadań z C i C++, Przemysław Koprowski, Wydawnictwo EXIT
<b>Wprowadzenie do kompresji danych Wydanie 2</b>, <font color="navy">Adam Drozdek</font>, <font color="green"> Wydawnictwo WNT</font>
Wprowadzenie do kompresji danych Wydanie 2, Adam Drozdek, Wydawnictwo WNT
<b>105 przykładów zastosowań całki oznaczonej z pełnymi rozwiązaniami krok po kroku</b>, <font color="navy">Wiesława Regel</font>, <font color="green"> Wydawnictwo Bila</font>
105 przykładów zastosowań całki oznaczonej z pełnymi rozwiązaniami krok po kroku, Wiesława Regel, Wydawnictwo Bila
<b>Testowanie oprogramowania Podręcznik dla początkujących</b>, <font color="navy">Rafał Pawlak</font>, <font color="green"> Wydawnictwo HELION</font>
Testowanie oprogramowania Podręcznik dla początkujących, Rafał Pawlak, Wydawnictwo HELION
 Koszyk
0 przedmiotów
Producent
Tu można zobaczyć wszystkie książki z wydawnictwa:

Wydawnictwo EXIT
 Kategoria:
 Energetyka
Smart metering Inteligentny system pomiarowy

Smart metering Inteligentny system pomiarowy

49.90zł
37.43zł
Informacje
Regulamin sklepu.
Koszty wysyłki.
Polityka prywatności.
Jak kupować?
Napisz do Nas.
 Wydawnictwa
 Poradniki
Systemy uczące się Rozpoznawanie wzorców analiza skupień i redukcja wymiarowości Mirosław Krzyśko, Waldemar Wołyński, Tomasz Górecki, Michał Skorzybut WNT
Podstawy fizyki Tom 5 Wydanie 2 David Halliday, Robert Resnick, Jearl Walker Naukowe PWN
UNIX. Sztuka programowania Eric S. Raymond HELION
CATIA v5 przykłady efektywnego zastosowania systemu w projektowaniu mechanicznym Andrzej Wełyczko HELION
Chemia organiczna Część IV J. Clayden, N. Greeves, S. Warren, P. Wothers WNT
Enterprise JavaBeans 3.0 wydanie V Bill Burke, Richard Monson-Haefel HELION
Analiza i prezentacja danych w Microsoft Excel Vademecum Walkenbacha Wydanie II John Walkenbach, Michael Alexander HELION
Pamięć genialna! Poznaj triki i wskazówki mistrza Dominic O'Brien Sensus
Podstawy fizyki powierzchni półprzewodników Anna Szaynok, Stanisław Kuźmiński WNT

poniedziałek, 19 listopad 2018   Mapa strony |  Nowości |  Dzisiejsze promocje |  Koszty wysyłki |  Kontakt z nami