Zaawansowane wyszukiwanie
  Strona Główna » Sklep » Technika » Technika pomiarowa » Moje Konto  |  Zawartość Koszyka  |  Do Kasy   
 Wybierz kategorię
Algorytmy Wzorce UML
Bazy danych
Bezpieczeństwo
Bioinformatyka
Biznes Ekonomia Firma
Chemia
DTP Design
E-biznes
Ekonometria
Elektronika Elektrotechnika
Energetyka
Fizyka
GIS
Grafika użytkowa
Hardware
Informatyczne systemy zarządzania
Informatyka w szkole
Internet
Języki programowania
Matematyka
Multimedia
Obsługa komputera
Office
Poradniki
Programowanie gier
Programy inżynierskie
Programy matematyczne
Serwery
Sieci Firewalle Protokoły
Słowniki
Systemy operacyjne
Technika
  Aranżacja wnętrz
  Automatyka Robotyka
  Budowa maszyn
  Budownictwo
  Budownictwo lądowe
  Geologia Hydrologia
  Materiały inżynierskie
  Motoryzacja
  Ochrona środowiska
  Ogrzewanie Klimatyzacja
  Przemysł spożywczy
  Rysunek techniczny
  Spawalnictwo
  Technika
  Technika pomiarowa
  Technika wojskowa
  Tworzywa sztuczne
  Zarządzanie jakością
Telekomunikacja
Tworzenie stron WWW

Zobacz pełny katalog »
 Wydawnictwo:
 MsPress
Sprawne zarządzanie projektami metodą Scrum

Sprawne zarządzanie projektami metodą Scrum

60.90zł
39.59zł
Szumy z zakresu małych częstotliwości. Metody pomiaru, zastosowanie do oceny jakości przyrządów półprzewodnikowych 42.00zł
Szumy z zakresu małych częstotliwości. Metody pomiaru, zastosowanie do oceny jakości przyrządów półprzewodnikowych

Autor: Alicja Konczakowska

ISBN: 83-60434-11-5

Ilość stron: 200

Data wydania: 06/2006

Szum jest wszechobecny, przebiegi przypadkowe, szczególnie typu 1/f występują np. jako rozkład chropowatości powierzchni, w zjawiskach chemicznych typu elektromigracja, korozja, jako rozkład nieróności dróg, w muzyce. Celowe jest więc poznanie istoty ich pochodzenia, a następnie umiejętne wykorzystanie informacji w nich zawartych.

Książka "Szumy z zakresu małych częstotliwości. Metody pomiaru, zastosowanie do oceny jakości przyrządów półprzewodnikowych" pomoże zrozumieć zagadnienia pomiaru szumów własnych przyrządów półprzewodnikowych w zakresie małych częstotliwości, a także zastosować szum własny do oceny jakości przyrządów. Przy pomiarach parametrów i charakterystyk szumowych trzeba pamiętać o przypadkowym charakterze mierzonych szumów i wynikających z tego konsekwencji przy ich ocenie. Zagadnienia pomiarów szumów poprzedzono skrótowym przeglądem różnych rodzajów szumów, zarówno wąsko- jak i szerokopasmowych. Wszystkie zagadnienia pomiaru i oceny jakości na podstawie szumów własnych omówiono na przykładzie przyrządów półprzewodnikowych. Należy podkreślić, że wszystkie przytoczone metody pomiaru oraz metodyka oceny jakości na podstawie szumów własnych mogą być zastosowane do większości elementów elektronicznhych, a także do oceny przebiegu fluktuacyjnych, o charakterze szumów z zakresu małych częstotliwości, ujawniających się także w różnych sytuacjach w innych dziedzinach i mogących towarzyszyć zjawiskom fizycznym, chemicznym i mechanicznym.

W książce omówiono również typowe moduły systemów do pomiaru szumów z zakresu małych częstotliwości ze wskazówkami, jak zrealizować system pomiarowy, określony wybraną metodą pomiaru.

Zagadnienia metodyki oceny jakości zilustrowano przykładami badań przyrządów półprzewodnikowych: tranzystorów, diod, transoptorów.

Przytoczono oryginalną metodę rozpoznawania w sygnale przypadkowym szumów wybuchowych.Książka jest pierwszą pozycja na polskim rynku wydawniczym, zawierającą opis metodyki oceny jakości przyrządów półprzewodnikowych na podstawie ich szumów własnych z zakresu małych częstotliwości. Jak zaznaczono, metodyka ta może być stosowana dla wielu różnych elementów elektronicznych.

Książka jest adresowanaw do studentów starszych lat studiów I i II stopnia, uczestników studiów doktoranckich oraz inżynierów i pracowników naukowych zajmujących się pomiarami bardzo małych sygnałów lsoowych z zakresu małych częstotliwości. Będzie przydatnaa elektronikom, fizykom, chemikom, mechanikom.

Rozdziały:

1. Ocena jakości elementów elektronicznych na podstawie pomiarów szumów z zakresu małych częstotliwości

2. Źródła szumów przyrządów półprzewodnikowych

2.1. Powiązania między szumami z zakresu małych częstotliwości przyrządów półprzewodnikowych a ich jakością
2.2. Szum cieplny
2.3. Szum śrutowy
2.4. Szum generacyjno-rekombinacyjny
2.5. Szum 1/f
2.6. Szum 1/f2
2.7. Szum wybuchowy
2.8. Szum lawinowy
2.9. Podsumowanie

3. Metody pomiaru szumów własnych przyrządów półprzewodnikowych w zakresie małych częstotliwości

3.1. Ocena statystyczna parametrów i charakterystyk procesu przypadkowego
3.2. Parametry i zależności funkcyjne (charakterystyki) określające właściwości szumowe w zakresie małych częstotliwości przyrządów półprzewodnikowych
3.3. Określenie warunków pomiaru szumów własnych przyrządów półprzewodnikowych
3.4. Metody stosowane do pomiaru szumów własnych przyrządów półprzewodnikowych w zakresie małych częstotliwości
3.5. Podsumowanie dotyczące metod pomiaru szumów własnych przyrządów półprzewodnikowych

4. Systemy do pomiaru szumów własnych przyrządów półprzewodnikowych w zakresie małych częstotliwości

4.1. Ogólne zasady podziału systemów i ich projektowania
4.2. Moduły systemu pomiarowego
4.3. Podsumowanie

5. Metody klasyfikacji przyrządów półprzewodnikowych do grup o zróżnicowanej jakości

5.1. Ogółne zasady klasyfikacji
5.2. Badania wstępne
5.3. Szumowy wskaźnik jakości
5.4. Oszacowanie poziomu szumów naturalnych i poziomu szumów nadmiarowych
5.5. Reguły decyzyjne, wyznaczenie wartości progowych szumowego wskaźnika jakości
5.6. Weryfikacja doboru szumowego wskaźnika jakości
5.7. Analiza szumów wybuchowych, możliwości identyfikacji przyrządów półprzewodnikowych generujących szumy wybuchowe (szum RTS)

6. Przykładowe wyniki badań przyrządów półprzewodnikowych

6.1. Ocena powiązań między poziomem szumów 1/f złącz bipolarnych tranzystorów mocy a jakością tranzystorów
6.2. Ocena powiązań między poziomem szumów 1/f diod mocy a ich napięciem przebicia
6.3. Ocena szumów RTS transoptorów

7. charakterystyka różnych obiektów i zjawisk na podstawie oceny przebiegów przypadkowych w zakresie małych częstotliwości

8. Uwagi końcowe

Dodatki:

D1. Estymatory parametrów lub charakterystyk szumowych
D2. Sposoby uśredniania stosowane przy estymacji funkcji gęstości widmowej mocy przebiegu szumowego
D3. Oszacowanie funkcji gęstości prawdopodobieństwa

Szumy z zakresu małych częstotliwości. Metody pomiaru, zastosowanie do oceny jakości przyrządów półprzewodnikowych
--- Pozycja niedostępna.---
Klienci, którzy kupili „Szumy z zakresu małych częstotliwości. Metody pomiaru, zastosowanie do oceny jakości przyrządów półprzewodnikowych”, kupili także:
<b>Microsoft Visual C# 2012 Krok po kroku</b>, <font color="navy">John Sharp</font>, <font color="green"> Wydawnictwo Microsoft Press</font>
Microsoft Visual C# 2012 Krok po kroku, John Sharp, Wydawnictwo Microsoft Press
<b>Rozplatanie tęczy Nauka złudzenia i apetyt na cuda</b>, <font color="navy">Richard Dawkins</font>, <font color="green"> Wydawnictwo Prószyński</font>
Rozplatanie tęczy Nauka złudzenia i apetyt na cuda, Richard Dawkins, Wydawnictwo Prószyński
<b>Algebra</b>, <font color="navy">Andrzej Białynicki-Birula</font>, <font color="green"> Wydawnictwo Naukowe PWN</font>
Algebra, Andrzej Białynicki-Birula, Wydawnictwo Naukowe PWN
<b>Układy cyfrowe wiedzieć więcej</b>, <font color="navy">Barry Wilkinson</font>, <font color="green"> Wydawnictwo WKiŁ</font>
Układy cyfrowe wiedzieć więcej, Barry Wilkinson, Wydawnictwo WKiŁ
<b>Morfologia matematyczna w teledetekcji</b>, <font color="navy">Przemysław Kupidura, Piotr Koza, Jacek Marciniak</font>, <font color="green"> Wydawnictwo Naukowe PWN</font>
Morfologia matematyczna w teledetekcji, Przemysław Kupidura, Piotr Koza, Jacek Marciniak, Wydawnictwo Naukowe PWN
<b>Efekt Lucyfera Dlaczego dobrzy ludzie czynią zło?</b>, <font color="navy">Philip Zimbardo</font>, <font color="green"> Wydawnictwo Naukowe PWN</font>
Efekt Lucyfera Dlaczego dobrzy ludzie czynią zło?, Philip Zimbardo, Wydawnictwo Naukowe PWN
 Koszyk
0 przedmiotów
Producent
Tu można zobaczyć wszystkie książki z wydawnictwa:

Wydawnictwo EXIT
 Kategoria:
 Energetyka
Poradnik energetyka praktyka Zeszyt 1 + CD

Poradnik energetyka praktyka Zeszyt 1 + CD

28.35zł
21.55zł
Informacje
Regulamin sklepu.
Koszty wysyłki.
Polityka prywatności.
Jak kupować?
Napisz do Nas.
 Wydawnictwa
 Poradniki
ArchiCAD 10 Karl Heinz Sperber HELION
Systemy uczące się Rozpoznawanie wzorców analiza skupień i redukcja wymiarowości Mirosław Krzyśko, Waldemar Wołyński, Tomasz Górecki, Michał Skorzybut WNT
101 zabezpieczeń przed atakami w sieci komputerowej Maciej Szmit, Marek Gusta, Mariusz Tomaszewski HELION
Podstawy fizyki Tom 2 Wydanie 2 David Halliday, Robert Resnick, Jearl Walker Naukowe PWN
Android w praktyce Charlie Collins, Michael Galpin, Matthias Kaeppler HELION
AVR Układy peryferyjne Tomasz Francuz HELION
Serwer SQL 2008 Administracja i programowanie Danuta Mendrala, Paweł Potasiński, Marcin Szeliga, Damian Widera HELION
Enterprise JavaBeans 3.0 wydanie V Bill Burke, Richard Monson-Haefel HELION
Jak zdać egzamin zawodowy w technikum informatycznym? Kwalifikacje E.12, E.13, E.14 Tomasz Kowalski HELION

wtorek, 11 grudzień 2018   Mapa strony |  Nowości |  Dzisiejsze promocje |  Koszty wysyłki |  Kontakt z nami