Zaawansowane wyszukiwanie
  Strona Główna » Sklep » Technika » Automatyka Robotyka » Moje Konto  |  Zawartość Koszyka  |  Do Kasy   
 Wybierz kategorię
Algorytmy Wzorce UML
Bazy danych
Bezpieczeństwo
Bioinformatyka
Biznes Ekonomia Firma
Chemia
DTP Design
E-biznes
Ekonometria
Elektronika Elektrotechnika
Energetyka
Fizyka
GIS
Grafika użytkowa
Hardware
Informatyczne systemy zarządzania
Informatyka w szkole
Internet
Języki programowania
Matematyka
Multimedia
Obsługa komputera
Office
Poradniki
Programowanie gier
Programy inżynierskie
Programy matematyczne
Serwery
Sieci Firewalle Protokoły
Słowniki
Systemy operacyjne
Technika
  Aranżacja wnętrz
  Automatyka Robotyka
  Budowa maszyn
  Budownictwo
  Budownictwo lądowe
  Geologia Hydrologia
  Materiały inżynierskie
  Motoryzacja
  Ochrona środowiska
  Ogrzewanie Klimatyzacja
  Przemysł spożywczy
  Rysunek techniczny
  Spawalnictwo
  Technika
  Technika pomiarowa
  Technika wojskowa
  Tworzywa sztuczne
  Zarządzanie jakością
Telekomunikacja
Tworzenie stron WWW

Zobacz pełny katalog »
 Wydawnictwo:
 WKiŁ
Użytkowanie komputerów. Wiedzieć więcej

Użytkowanie komputerów. Wiedzieć więcej

63.00zł
47.25zł
Systemy uczące się Rozpoznawanie wzorców analiza skupień i redukcja wymiarowości 59.00zł 47.20zł
Systemy uczące się Rozpoznawanie wzorców analiza skupień i redukcja wymiarowości

Autor: Mirosław Krzyśko, Waldemar Wołyński, Tomasz Górecki, Michał Skorzybut

ISBN: 978-83-204-3459-0

Ilość stron: 400

Data wydania: 10/2008

Jest to nowoczesny podręcznik zaawansowanych technik analizy danych stosowanych w zagadnieniach  klasyfikacji, z głównym naciskiem na metody statystyczne.

Książka składa się z  dwóch części .W pierwszej z nich przedstawiono systemy uczenia się pod nadzorem, w części drugiej opisanno cztery podstawowe metody uczenia się bez nadzoru . Uwzględniono większość nowych najbardziej obiecujących metod powstałych w ostatnim dziesięcioleciu.

Podręcznik jest przeznaczony dla studentów studiów matematycznych, informatycznych i technicznych, na których analiza jest przedmiotem obowiązkowym lub fakultatywnym.

Rozdziały:

Część I. Statystyczne systemy uczące się pod nadzorem
Rozpoznawanie wzorców

1.Probabilistyczne metody klasyfikacyjne
11. Wektory losowe i ich rozkłady prawdopodobieństwa
1.2. Pojęcia wstępne
1.3. Rzeczywisty i aktualny poziom błędu, klasyfikator bayesowski
1.4. Klasyfikatory gaussowskie
1.5. Naiwny klasyfikator bayesowski
1.6. Liniowa funkcja dyskryminacyjna Fishera
1.7. Zmienne dyskryminacyjne
1.8. Klasyfikatory liniowe Andersena Bahadura
1.9. Klasyfikatory liniowe maksymalizujące odległości probabilistyczne
1.10. Estymacja aktualnego poziomu błędu

2. Metody regresyjne
2.1. Regresja liniowa
2.2. Regresja logistyczna
2.3. Związek między regresją logistyczną i liniową analizą dyskryminacyjną
2.4. Estymatory jądrowe gęstości
2.5. R,egresja nieparametryczna

3. Krzywe ROC

4. Metoda wektorów nośnych
4.1. Model liniowy
4.2. Model nieliniowy
4.3. Zagadnienie K klas
4.4. VC wymiar i zasada SRM
4.5. Optymalizacja

5. Metoda najbliższego sąsiada
5.1. Miara niepodobieństwa
5.2. Estymacja funkcji gęstości
5.3. Własności graniczne
5.4. Metody rozwiązywania sytuacji remisowych
5.5. Metody wyboru reprezentatywnego podzbioru obserwacji
5.6. Uwagi praktyczne

6. Drzewa klasyfikacyjne
6.1. Konstrukcja drzewa klasyfikacyjnego
6.2. Kryteria podziału - metoda CART
6.3. Optymalna wielkość drzewa klasyfikacyjnego
6.4. Kryteria podziału - metoda QUEST
6.5. Brakujące wartości cech

7. Sieci neuronowe
7.1. Modele neuronów
7.2. Sieci wielowarstwowe
7.3. Metody uczenia sieci neuronowych
7.4. Sieci rekurencyjne
7.5. Sieci samoorganizujące się z konkurencją (współzawodnictwem)
7.6. Sieci rezonansowe
7.7. Sieci o radialnych funkcjach bazowych
7.8. Probabilistyczne sieci neuronowe
7.9. Uwagi praktyczne|

8. Dekompozycja zagadnień wieloklasowych
8.1. Metoda OPC
8.2. Metoda ECOC
8.3. Metoda PWC

9. Wzmacnianie klasyfikatorów
9.1. Algorytm bagging
9.2. Algorytmy typu boosting

10. Procedury kombinowane
10.1. Metoda selekcji
10.2. Łączenie klasyfikatorów

Część II. Statystyczne systemy uczące się bez nadzoru Analiza skupień, redukcja wymiaru

11. Analiza składowych głównych
11.1. Definicja składowych głównych
11.2. Własności składowych głównych
11.3. Metody pomijania składowych głównych

12. Analiza skupień
12.1. Algorytmy hierarchiczne
12.2. Metoda K-średnich
12.3. Inne algorytmy analizy skupień

13. Skalowanie wielowymiarowe
13.1. Klasyczne skalowanie
13.2. Skalowanie metryczne
13.3. Skalowanie porządkowe

14. Analiza korespondencji
14.1. Algorytm analizy korespondencji
14.2. Wieloczynnikowa analiza korespondencji

Literatura
Polski skorowidz pojęć
Angielski skorowidz pojęć

Systemy uczące się Rozpoznawanie wzorców analiza skupień i redukcja wymiarowości
Tytuł książki: "Systemy uczące się Rozpoznawanie wzorców analiza skupień i redukcja wymiarowości"
Autor: Mirosław Krzyśko, Waldemar Wołyński, Tomasz Górecki, Michał Skorzybut
Wydawnictwo: WNT
Cena: 59.00zł 47.20zł
Klienci, którzy kupili „Systemy uczące się Rozpoznawanie wzorców analiza skupień i redukcja wymiarowości”, kupili także:
<b>Metody klasyfikacji obiektów w wizji komputerowej Wydanie 2</b>, <font color="navy">Katarzyna Stąpor</font>, <font color="green"> Wydawnictwo Naukowe PWN</font>
Metody klasyfikacji obiektów w wizji komputerowej Wydanie 2, Katarzyna Stąpor, Wydawnictwo Naukowe PWN
<b>Metody morfologiczne w przetwarzaniu obrazów cyfrowych</b>, <font color="navy">Marcin Iwanowski</font>, <font color="green"> Wydawnictwo EXIT</font>
Metody morfologiczne w przetwarzaniu obrazów cyfrowych, Marcin Iwanowski, Wydawnictwo EXIT
<b>Obraz cyfrowy Reprezentacja kompresja podstawy przetwarzania Standardy JPEG i MPEG</b>, <font color="navy">Marek Domański</font>, <font color="green"> Wydawnictwo WKiŁ</font>
Obraz cyfrowy Reprezentacja kompresja podstawy przetwarzania Standardy JPEG i MPEG, Marek Domański, Wydawnictwo WKiŁ
<b>Przetwarzanie i analiza obrazów w systemach przemysłowych</b>, <font color="navy">Dominik Sankowski, Wolodymyr Mosorov, Krzysztof Strzecha</font>, <font color="green"> Wydawnictwo Naukowe PWN</font>
Przetwarzanie i analiza obrazów w systemach przemysłowych, Dominik Sankowski, Wolodymyr Mosorov, Krzysztof Strzecha, Wydawnictwo Naukowe PWN
<b>Podstawy modelowania krzywych i powierzchni Zastosowanie w grafice komputerowej Wydanie II</b>, <font color="navy">Przemysław Kiciak</font>, <font color="green"> Wydawnictwo WNT</font>
Podstawy modelowania krzywych i powierzchni Zastosowanie w grafice komputerowej Wydanie II, Przemysław Kiciak, Wydawnictwo WNT
<b>Procesy biznesowe w praktyce. Projektowanie, testowanie i optymalizacja. Wydanie II</b>, <font color="navy">Marek Piotrowski</font>, <font color="green"> Wydawnictwo HELION</font>
Procesy biznesowe w praktyce. Projektowanie, testowanie i optymalizacja. Wydanie II, Marek Piotrowski, Wydawnictwo HELION
 Koszyk
0 przedmiotów
Producent
Tu można zobaczyć wszystkie książki z wydawnictwa:

Wydawnictwo WNT
 Kategoria:
 SQL
Bazy danych i PostgreSQL od podstaw

Bazy danych i PostgreSQL od podstaw

89.00zł
71.20zł
Informacje
Regulamin sklepu.
Koszty wysyłki.
Polityka prywatności.
Jak kupować?
Napisz do Nas.
 Wydawnictwa
 Poradniki
Chłodnictwo Technologia w piekarni Klaus Losche Naukowe PWN
OpenGL programowanie gier Kevin Hawkins, Dave Astle HELION
Podstawy fizyki Tom 3 Wydanie 2 David Halliday, Robert Resnick, Jearl Walker Naukowe PWN
LATEX wiersz po wierszu Antoni Diller HELION
SAP R/3 Przewodnik dla menadżerów Vivek Kale HELION
Kwalifikacja EE.08. Montaż i eksploatacja systemów komputerowych, urządzeń peryferyjnych i sieci. Część 2. Systemy opera Tomasz Kowalski, Tomasz Orkisz HELION
Solid Edge Komputerowe wspomaganie projektowania Grzegorz Kazimierczak, Bernard Pacula, Adam Budzyński HELION
Fizyka dla programistów gier David M. Bourg HELION
Jak zdać egzamin zawodowy w technikum informatycznym? Kwalifikacje E.12, E.13, E.14 Tomasz Kowalski HELION

poniedziałek, 17 grudzień 2018   Mapa strony |  Nowości |  Dzisiejsze promocje |  Koszty wysyłki |  Kontakt z nami