Zaawansowane wyszukiwanie
  Strona Główna » Sklep » Technika » Automatyka Robotyka » Moje Konto  |  Zawartość Koszyka  |  Do Kasy   
 Wybierz kategorię
Algorytmy Wzorce UML
Bazy danych
Bezpieczeństwo
Bioinformatyka
Biznes Ekonomia Firma
Chemia
DTP Design
E-biznes
Ekonometria
Elektronika Elektrotechnika
Energetyka
Fizyka
GIS
Grafika użytkowa
Hardware
Informatyczne systemy zarządzania
Informatyka w szkole
Internet
Języki programowania
Matematyka
Multimedia
Obsługa komputera
Office
Poradniki
Programowanie gier
Programy inżynierskie
Programy matematyczne
Serwery
Sieci Firewalle Protokoły
Słowniki
Systemy operacyjne
Technika
  Aranżacja wnętrz
  Automatyka Robotyka
  Budowa maszyn
  Budownictwo
  Budownictwo lądowe
  Geologia Hydrologia
  Materiały inżynierskie
  Motoryzacja
  Ochrona środowiska
  Ogrzewanie Klimatyzacja
  Przemysł spożywczy
  Rysunek techniczny
  Spawalnictwo
  Technika
  Technika pomiarowa
  Technika wojskowa
  Tworzywa sztuczne
  Zarządzanie jakością
Telekomunikacja
Tworzenie stron WWW

Zobacz pełny katalog »
 Wydawnictwo:
 BTC
Notacja modelowania procesów biznesowych podstawy Business Process Modeling Notation BPMN

Notacja modelowania procesów biznesowych podstawy Business Process Modeling Notation BPMN

58.00zł
46.40zł
Systemy uczące się Rozpoznawanie wzorców analiza skupień i redukcja wymiarowości 59.00zł 47.20zł
Systemy uczące się Rozpoznawanie wzorców analiza skupień i redukcja wymiarowości

Autor: Mirosław Krzyśko, Waldemar Wołyński, Tomasz Górecki, Michał Skorzybut

ISBN: 978-83-204-3459-0

Ilość stron: 400

Data wydania: 10/2008

Jest to nowoczesny podręcznik zaawansowanych technik analizy danych stosowanych w zagadnieniach  klasyfikacji, z głównym naciskiem na metody statystyczne.

Książka składa się z  dwóch części .W pierwszej z nich przedstawiono systemy uczenia się pod nadzorem, w części drugiej opisanno cztery podstawowe metody uczenia się bez nadzoru . Uwzględniono większość nowych najbardziej obiecujących metod powstałych w ostatnim dziesięcioleciu.

Podręcznik jest przeznaczony dla studentów studiów matematycznych, informatycznych i technicznych, na których analiza jest przedmiotem obowiązkowym lub fakultatywnym.

Rozdziały:

Część I. Statystyczne systemy uczące się pod nadzorem
Rozpoznawanie wzorców

1.Probabilistyczne metody klasyfikacyjne
11. Wektory losowe i ich rozkłady prawdopodobieństwa
1.2. Pojęcia wstępne
1.3. Rzeczywisty i aktualny poziom błędu, klasyfikator bayesowski
1.4. Klasyfikatory gaussowskie
1.5. Naiwny klasyfikator bayesowski
1.6. Liniowa funkcja dyskryminacyjna Fishera
1.7. Zmienne dyskryminacyjne
1.8. Klasyfikatory liniowe Andersena Bahadura
1.9. Klasyfikatory liniowe maksymalizujące odległości probabilistyczne
1.10. Estymacja aktualnego poziomu błędu

2. Metody regresyjne
2.1. Regresja liniowa
2.2. Regresja logistyczna
2.3. Związek między regresją logistyczną i liniową analizą dyskryminacyjną
2.4. Estymatory jądrowe gęstości
2.5. R,egresja nieparametryczna

3. Krzywe ROC

4. Metoda wektorów nośnych
4.1. Model liniowy
4.2. Model nieliniowy
4.3. Zagadnienie K klas
4.4. VC wymiar i zasada SRM
4.5. Optymalizacja

5. Metoda najbliższego sąsiada
5.1. Miara niepodobieństwa
5.2. Estymacja funkcji gęstości
5.3. Własności graniczne
5.4. Metody rozwiązywania sytuacji remisowych
5.5. Metody wyboru reprezentatywnego podzbioru obserwacji
5.6. Uwagi praktyczne

6. Drzewa klasyfikacyjne
6.1. Konstrukcja drzewa klasyfikacyjnego
6.2. Kryteria podziału - metoda CART
6.3. Optymalna wielkość drzewa klasyfikacyjnego
6.4. Kryteria podziału - metoda QUEST
6.5. Brakujące wartości cech

7. Sieci neuronowe
7.1. Modele neuronów
7.2. Sieci wielowarstwowe
7.3. Metody uczenia sieci neuronowych
7.4. Sieci rekurencyjne
7.5. Sieci samoorganizujące się z konkurencją (współzawodnictwem)
7.6. Sieci rezonansowe
7.7. Sieci o radialnych funkcjach bazowych
7.8. Probabilistyczne sieci neuronowe
7.9. Uwagi praktyczne|

8. Dekompozycja zagadnień wieloklasowych
8.1. Metoda OPC
8.2. Metoda ECOC
8.3. Metoda PWC

9. Wzmacnianie klasyfikatorów
9.1. Algorytm bagging
9.2. Algorytmy typu boosting

10. Procedury kombinowane
10.1. Metoda selekcji
10.2. Łączenie klasyfikatorów

Część II. Statystyczne systemy uczące się bez nadzoru Analiza skupień, redukcja wymiaru

11. Analiza składowych głównych
11.1. Definicja składowych głównych
11.2. Własności składowych głównych
11.3. Metody pomijania składowych głównych

12. Analiza skupień
12.1. Algorytmy hierarchiczne
12.2. Metoda K-średnich
12.3. Inne algorytmy analizy skupień

13. Skalowanie wielowymiarowe
13.1. Klasyczne skalowanie
13.2. Skalowanie metryczne
13.3. Skalowanie porządkowe

14. Analiza korespondencji
14.1. Algorytm analizy korespondencji
14.2. Wieloczynnikowa analiza korespondencji

Literatura
Polski skorowidz pojęć
Angielski skorowidz pojęć

Systemy uczące się Rozpoznawanie wzorców analiza skupień i redukcja wymiarowości
Tytuł książki: "Systemy uczące się Rozpoznawanie wzorców analiza skupień i redukcja wymiarowości"
Autor: Mirosław Krzyśko, Waldemar Wołyński, Tomasz Górecki, Michał Skorzybut
Wydawnictwo: WNT
Cena: 59.00zł 47.20zł
Klienci, którzy kupili „Systemy uczące się Rozpoznawanie wzorców analiza skupień i redukcja wymiarowości”, kupili także:
<b>Procesy biznesowe w praktyce. Projektowanie, testowanie i optymalizacja. Wydanie II</b>, <font color="navy">Marek Piotrowski</font>, <font color="green"> Wydawnictwo HELION</font>
Procesy biznesowe w praktyce. Projektowanie, testowanie i optymalizacja. Wydanie II, Marek Piotrowski, Wydawnictwo HELION
<b>Ruby Tao programowania w 400 przykładach</b>, <font color="navy">Hal Fulton</font>, <font color="green"> Wydawnictwo HELION</font>
Ruby Tao programowania w 400 przykładach, Hal Fulton, Wydawnictwo HELION
<b>Tajniki ekspozycji i systemu strefowego dla fotografów cyfrowych</b>, <font color="navy">Lee Varis</font>, <font color="green"> Wydawnictwo HELION</font>
Tajniki ekspozycji i systemu strefowego dla fotografów cyfrowych, Lee Varis, Wydawnictwo HELION
<b>C# od podszewki Wydanie II</b>, <font color="navy">Jon Skeet</font>, <font color="green"> Wydawnictwo HELION</font>
C# od podszewki Wydanie II, Jon Skeet, Wydawnictwo HELION
<b>Wykrywaj i reaguj. Praktyczny monitoring sieci dla administratorów</b>, <font color="navy">Richard Bejtlich</font>, <font color="green"> Wydawnictwo HELION</font>
Wykrywaj i reaguj. Praktyczny monitoring sieci dla administratorów, Richard Bejtlich, Wydawnictwo HELION
<b>Fascynujący świat robotów. Przewodnik dla konstruktorów</b>, <font color="navy">John Baichtal</font>, <font color="green"> Wydawnictwo HELION</font>
Fascynujący świat robotów. Przewodnik dla konstruktorów, John Baichtal, Wydawnictwo HELION
 Koszyk
0 przedmiotów
Producent
Tu można zobaczyć wszystkie książki z wydawnictwa:

Wydawnictwo WNT
 Kategoria:
 Układy cyfrowe
Mikrokontrolery STM32 w sieci Ethernet w przykładach

Mikrokontrolery STM32 w sieci Ethernet w przykładach

85.00zł
68.00zł
Informacje
Regulamin sklepu.
Koszty wysyłki.
Polityka prywatności.
Jak kupować?
Napisz do Nas.
 Wydawnictwa
 Poradniki
Ekonomia polityczna Unii Europejskiej i jej problemy Kazimierz Tarchalski WNT
Perełki programowania gier Vademecum profesjonalisty Tom 2 Dante Treglia HELION
Chłodnictwo Technologia w piekarni Klaus Losche Naukowe PWN
Head First Ajax Edycja polska (Rusz głową) Rebecca Riordan HELION
Antywzorce języka SQL Jak unikać pułapek podczas programowania baz danych Bill Karwin HELION
Android. Programowanie aplikacji. Rusz głową Dawn Griffiths, David Griffiths HELION
C++ Algorytmy i struktury danych Adam Drozdek HELION
Perełki programowania gier Vademecum profesjonalisty Tom 6 Mike Dickheiser HELION
C++. 50 efektywnych sposobów na udoskonalenie Twoich programów Scott Meyers HELION

niedziela, 19 sierpień 2018   Mapa strony |  Nowości |  Dzisiejsze promocje |  Koszty wysyłki |  Kontakt z nami