Zaawansowane wyszukiwanie
  Strona Główna » Sklep » Matematyka » Statystyka Statistica SPSS » Moje Konto  |  Zawartość Koszyka  |  Do Kasy   
 Wybierz kategorię
Algorytmy Wzorce UML
Bazy danych
Bezpieczeństwo
Bioinformatyka
Biznes Ekonomia Firma
Chemia
DTP Design
E-biznes
Ekonometria
Elektronika Elektrotechnika
Energetyka
Fizyka
GIS
Grafika użytkowa
Hardware
Informatyczne systemy zarządzania
Informatyka w szkole
Internet
Języki programowania
Matematyka
  Algebra Teoria liczb
  Analiza matematyczna
  Logika Topologia
  Matematyka dyskretna
  Matematyka ogólna
  Rachunek prawdopodobieństwa
  Statystyka Statistica SPSS
Multimedia
Obsługa komputera
Office
Poradniki
Programowanie gier
Programy inżynierskie
Programy matematyczne
Serwery
Sieci Firewalle Protokoły
Słowniki
Systemy operacyjne
Technika
Telekomunikacja
Tworzenie stron WWW

Zobacz pełny katalog »
 Wydawnictwo:
 PWN
Procesy adsorpcji reaktywnej Inżynieria chemiczna

Procesy adsorpcji reaktywnej Inżynieria chemiczna

59.00zł
44.25zł
Statystyka dla studentów kierunków technicznych i przyrodniczych Wydanie III 69.00zł
Statystyka dla studentów kierunków technicznych i przyrodniczych Wydanie III

Tytuł: Statystyka dla studentów kierunków technicznych i przyrodniczych Wydanie III
Autor: Jacek Koronacki , Jan Mielniczuk
ISBN: 978-83-01-19978-4
Ilość stron: 492
Data wydania: 08/2018 (wydanie 3)
Oprawa: Miękka
Format: 16.5x23.5cm
Wydawnictwo: Naukowe PWN
Cena: 69.00zł


Książka "Statystyka dla studentów kierunków technicznych i przyrodniczych Wydanie trzecie" jest nowoczesnym podręcznikiem statystyki. W książce przedstawiono wiele przykładów zaczerpniętych z praktyki, ułatwiających zrozumienie omawianych zagadnień.

Jej pierwsza część (wstępna analiza danych, przejście od modelu probabilistycznego do wnioskowania statystycznego, podstawy wnioskowania statystycznego oraz analiza regresji) może być podstawą jednosemestralnego kursu wprowadzającego.

W drugiej części przedstawiono wybrane, najbardziej istotne dla praktyka zagadnienia statystyki aplikacyjnej: analizę wariancji, analizę zależności cech jakościowych, metody próbkowania, zagadnienia symulacji komputerowej i metody rangowe.

Całość stanowi podstawę dla rocznego wykładu ze statystyki. Przedmiot wykładu ujęty jest w sposób całościowy i w pełni wykorzystujący nowoczesne narzędzia statystyki obliczeniowej. Omawiane pojęcia i metody są motywowane i ilustrowane licznymi pochodzącymi z praktyki statystycznej przykładami. Po każdym rozdziale zamieszczono zadania do samodzielnego rozwiązania.

Książka jest przeznaczona przede wszystkim dla studentów kierunków technicznych, przyrodniczych, rolniczych i społecznych oraz dla wszystkich tych osób, które w swej pracy stykają się z problemami analizy danych.

Spis treści:

1.         Wstępna analiza danych
1.1.          Wprowadzenie
1.2.          Graficzne przedstawienie danych
1.2.1.       Wykresy dla danych jakościowych
1.2.2.       Wykresy dla danych ilościowych
1.2.3.       Wykresy przebiegu
1.3.          Wskaźniki sumaryczne
1.3.1.       Wskaźniki położenia
1.3.2.       Wskaźniki rozproszenia
1.3.3.       Wykres ramkowy
1.4.          Gęstości rozkładów - wprowadzenie
1.4.1.       Podstawowe pojęcia
1.4.2.       Gęstości normalne
1.5.          Zadania

2.         Od modelu probabilistycznego do wnioskowania statystycznego
2.1.          Model probabilistyczny - podstawy
2.1.1.       Doświadczenia losowe i rachunek zdarzeń losowych
2.1.2.       Prawdopodobieństwo
2.1.3.       Prawdopodobieństwo warunkowe i zdarzenia niezależne
2.2.          Zmienne losowe
2.2.1.       Zmienne dyskretne i ich rozkłady
2.2.2.       Wskaźniki położenia i rozproszenia dla dyskretnej zmiennej losowej
2.2.3.       Przykłady rozkładów dyskretnych
2.2.4.       Ciągłe zmienne losowe
2.2.5.       Wskaźniki położenia i rozproszenia dla ciągłych zmiennych losowych
2.2.6.       Przykłady ciągłych zmiennych losowych
2.2.7.       Nierówność Czebyszewa
2.3.          Para zmiennych losowych - rozkład łączny, rozkłady i parametry związan z rozkładem łącznym
2.4.          Wnioskowanie statystyczne - podstawy
2.4.1.       Podstawowe pojęcia
2.4.2.       Rozkład średniej w prostej próbie losowej
2.4.3.       Rozkład częstości
2.4.4.       Estymatory i ich podstawowe własności
2.5.          Metody zbierania danych
2.5.1.       Podstawowy schemat eksperymentalny
2.5.2.       Inne schematy eksperymentalne
2.6.               Zadania

3.         Wnioskowanie statystyczne
3.1.          Wprowadzenie
3.2.          Estymacja punktowa
3.2.1.       Estymatory największej wiarogodności
3.2.2.       Estymatory oparte na metodzie momentów
3.2.3.       M-estymatory
3.3.          Estymacja przedziałowa
3.3.1.       Przedziały ufności dla wartości średniej rozkładu normalnego
3.3.2.       Przedziały ufności dla wariancji rozkładu normalnego
3.3.3.       Uwaga o przedziałach ufności w przypadku rozkładów cią­głych, innych niż normalny
3.3.4.       Przedziały ufności dla proporcji
3.4.          Testowanie hipotez
3.4.1.       Testowanie hipotez w rodzinach rozkładów normalnych i roz­kładów dwupunktowych
3.4.2.       Testowanie zgodności
3.5.          Zadania

4.         Analiza zależności zmiennych ilościowych
4.1.          Wprowadzenie
4.2.          Analiza zależności dwóch zmiennych ilościowych
4.2.1.       Współczynnik korelacji próbkowej
4.2.2.       Liniowa zależność między dwiema zmiennymi, prosta regresji
4.2.3.       Model zależności liniowej
4.2.4.       Wnioskowanie w modelu zależności liniowej
4.2.5.       Analiza wartości resztowych
4.3.          Analiza zależności wielu zmiennych ilościowych
4.3.1.       Model liniowy regresji wielokrotnej
4.3.2.       Własności estymatorów MNK
4.3.3.       Diagnostyka modelu regresji
4.3.4.       Analiza zależności parametrów samochodów
4.4.          Zadania

5.         Analiza wariancji 
5.1.          Wprowadzenie
5.2.          Analiza jednoczynnikowa
5.2.1.       Test F analizy wariancji
5.2.2.       Związki z analizą regresji
5.2.3.       Porównania wielokrotne
5.2.4.       Zrandomizowany plan blokowy
5.3.          Analiza dwuczynnikowa
5.4.          Zadania

6.         Analiza danych jakościowych
6.1.          Wprowadzenie
6.2.          Analiza jednej zmiennej
6.2.1.       Uwagi wstępne
6.2.2.       Testowanie prostej hipotezy o zgodności
6.2.3.       Testowanie złożonej hipotezy o zgodności
6.3.          Testowanie jednorodności
6.4.          Analiza dwóch zmiennych losowych
6.4.1.       Testowanie niezależności
6.4.2.       Analiza zależności
6.5.          Uwagi o poprawności wnioskowania i paradoksie Simpsona
6.6.          Zadania

7.         Metody wyboru prób z populacji skończonej
7.1.          Metoda reprezentacyjna
7.1.1.       Cel metody reprezentacyjnej
7.1.2.       Podstawowe schematy losowania prób
7.2.          Estymatory parametrów populacji dla różnych schematów losowania
7.2.1.       Estymator Horwitza-Thompsona wartości średniej cechy
7.2.2.       Przedział ufności dla wartości średniej cechy
7.2.3.       Estymatory wartości średniej cechy oparte na cesze dodatkowej
7.2.4.       Estymator proporcji
7.2.5.       Estymacja ilorazu wartości średnich
7.2.6.       Estymatory średniej dla schematu losowania warstwowego
7.3.          Zadania

8.         Metoda Monte Carlo
8.1.          Wprowadzenie
8.2.          Generatory liczb pseudolosowych
8.2.1.       Generatory liczb pseudolosowych z rozkładu jednostajnego
8.2.2.       Metoda przekształcenia kwantylowego
8.2.3.       Metoda oparta na reprezentacji zmiennych losowych
8.2.4.       Metoda eliminacji
8.3.          Szacowanie parametrów rozkładu metodą Monte Carlo
8.3.1.       Estymatory parametrów rozkładu otrzymane metodą Monte Carlo
8.3.2.       Błędy standardowe estymatorów i przedziały ufności
8.3.3.       Modelowanie eksperymentów losowych metodą Monte Carlo
8.4.          Testy permutacyjne
8.4.1.       Testowanie jednorodności
8.4.2.       Testowanie niezależności cech
8.5.          Estymacja rozkładu statystyki metodą bootstrap
8.5.1.       Zasada bootstrap
8.5.2.       Błąd standardowy typu bootstrap
8.5.3.       Przedziały ufności typu bootstrap
8.5.4.       Testowanie hipotez przy użyciu metody bootstrap
8.6.          Zadania

9.         Metody rangowe
9.1.          Wprowadzenie
9.2.          Porównanie rozkładu cech w dwóch populacjach
9.2.1.       Test Wilcoxona
9.2.2.       Własności statystyki Wilcoxona
9.2.3.       Estymacja parametru przesunięcia A
9.2.4.       Test Kołmogorowa-Smirnowa
9.3.          Testy porównania rozkładów dla par obserwacji
9.3.1.       Test Wilcoxona dla par obserwacji
9.3.2.       Własności statystyki Wilcoxona dla par obserwacji
9.3.3.       Estymacja parametru przesunięcia A
9.3.4.       Test znaków
9.4.          Rangowe testy niezależności
9.4.1.       Współczynnik korelacji Spearmana
9.4.2.       Współczynnik Kendalla
9.5.          Porównanie rozkładów cech w wielu populacjach
9.5.1.       Test Kruskala-Wallisa
9.5.2.       Porównania wielokrotne
9.6.          Metody rangowe dla modelu regresji liniowej
9.7.          Zadania

Statystyka dla studentów kierunków technicznych i przyrodniczych Wydanie III
--- Pozycja niedostępna.---
Klienci, którzy kupili „Statystyka dla studentów kierunków technicznych i przyrodniczych Wydanie III”, kupili także:
<b>Księga odkrywców LEGO Mindstorms NXT 2.0 Podstawy budowy i programowania robotów</b>, <font color="navy">Laurens Valk</font>, <font color="green"> Wydawnictwo HELION</font>
Księga odkrywców LEGO Mindstorms NXT 2.0 Podstawy budowy i programowania robotów, Laurens Valk, Wydawnictwo HELION
<b>O obrotach ciał niebieskich</b>, <font color="navy">Mikołaj Kopernik</font>, <font color="green"> Wydawnictwo Jirafa Roja</font>
O obrotach ciał niebieskich, Mikołaj Kopernik, Wydawnictwo Jirafa Roja
<b>Spekulacja intuicyjna</b>, <font color="navy">Curtis Faith</font>, <font color="green"> Wydawnictwo Linia</font>
Spekulacja intuicyjna, Curtis Faith, Wydawnictwo Linia
<b>Nie przeszkadzaj klientowi w zakupach</b>, <font color="navy">David Meerman Scott</font>, <font color="green"> Wydawnictwo Naukowe PWN</font>
Nie przeszkadzaj klientowi w zakupach, David Meerman Scott, Wydawnictwo Naukowe PWN
<b>Nauka rysunku 12 lekcji rysowania</b>, <font color="navy">Barrington Barber</font>, <font color="green"> Wydawnictwo DELTA</font>
Nauka rysunku 12 lekcji rysowania, Barrington Barber, Wydawnictwo DELTA
<b>Microsoft Windows SharePoint Services krok po kroku</b>, <font color="navy">Olga Londer, Todd Bleeker, Penelope Coventry i James Edelen</font>, <font color="green"> Wydawnictwo Microsoft Press</font>
Microsoft Windows SharePoint Services krok po kroku, Olga Londer, Todd Bleeker, Penelope Coventry i James Edelen, Wydawnictwo Microsoft Press
<b>OpenOffice.ux.pl 2.0 ćwiczenia praktyczne</b>, <font color="navy"></font>, <font color="green"> Wydawnictwo HELION</font>
OpenOffice.ux.pl 2.0 ćwiczenia praktyczne, , Wydawnictwo HELION
<b>Aktywne dziewięć miesięcy Ćwiczenia i porady dla przyszłych mam</b>, <font color="navy">Bonnie Berk</font>, <font color="green"> Wydawnictwo Buk Rower</font>
Aktywne dziewięć miesięcy Ćwiczenia i porady dla przyszłych mam, Bonnie Berk, Wydawnictwo Buk Rower
<b>Matematyka finansowa Instrumenty pochodne Wydanie II</b>, <font color="navy">Jacek Jakubowski Andrzej Palczewski Marek Rutkowski Łukasz Stettner</font>, <font color="green"> Wydawnictwo Naukowe PWN</font>
Matematyka finansowa Instrumenty pochodne Wydanie II, Jacek Jakubowski Andrzej Palczewski Marek Rutkowski Łukasz Stettner, Wydawnictwo Naukowe PWN
 Koszyk
0 przedmiotów
Producent
Tu można zobaczyć wszystkie książki z wydawnictwa:

Wydawnictwo Naukowe PWN
 Kategoria:
 Fizyka
Dioptryka - Kartezjusz

Dioptryka - Kartezjusz

30.00zł
24.00zł
Informacje
Regulamin sklepu.
Koszty wysyłki.
Polityka prywatności.
Jak kupować?
Napisz do Nas.
 Wydawnictwa
 Poradniki
Android w praktyce Charlie Collins, Michael Galpin, Matthias Kaeppler HELION
Blender Podstawy modelowania Bogdan Bociek HELION
Podstawy fizyki powierzchni półprzewodników Anna Szaynok, Stanisław Kuźmiński WNT
Arytmetyka komputerów w praktyce + CD Sławomir Gryś Naukowe PWN
Head First Servlets & JSP Edycja polska Wydanie II Bryan Basham, Kathy Sierra, Bert Bates HELION
SQL Rusz głową (Head first) Lynn Beighley HELION
Microsoft Project 2016 Krok po kroku Carl Chatfield, Timothy Johnson APN Promise
Wyrażenia regularne Jeffrey E. F. Friedl HELION
Kwalifikacja EE.08. Montaż i eksploatacja systemów komputerowych, urządzeń peryferyjnych i sieci. Część 2. Systemy opera Tomasz Kowalski, Tomasz Orkisz HELION

poniedziałek, 17 grudzień 2018   Mapa strony |  Nowości |  Dzisiejsze promocje |  Koszty wysyłki |  Kontakt z nami