Zaawansowane wyszukiwanie
  Strona Główna » Sklep » Technika » Technika pomiarowa » Moje Konto  |  Zawartość Koszyka  |  Do Kasy   
 Wybierz kategorię
Algorytmy Wzorce UML
Bazy danych
Bezpieczeństwo
Bioinformatyka
Biznes Ekonomia Firma
Chemia
DTP Design
E-biznes
Ekonometria
Elektronika Elektrotechnika
Energetyka
Fizyka
GIS
Grafika użytkowa
Hardware
Informatyczne systemy zarządzania
Informatyka w szkole
Języki programowania
Matematyka
Multimedia
Obsługa komputera
Office
Poradniki
Programowanie gier
Programy inżynierskie
Programy matematyczne
Słowniki
Serwery
Sieci komputerowe
Systemy operacyjne
Technika
  Aranżacja wnętrz
  Automatyka Robotyka
  Budowa maszyn
  Budownictwo
  Budownictwo lądowe
  Geologia Hydrologia
  Materiały inżynierskie
  Motoryzacja
  Ochrona środowiska
  Ogrzewanie Klimatyzacja
  Przemysł spożywczy
  Rysunek techniczny
  Spawalnictwo
  Technika
  Technika pomiarowa
  Technika wojskowa
  Tworzywa sztuczne
  Zarządzanie jakością
Telekomunikacja
Tworzenie stron WWW

Zobacz pełny katalog »
 Wydawnictwo:
 MsPress
Microsoft Windows Server 2003 Resource Kit po polsku

Microsoft Windows Server 2003 Resource Kit po polsku

299.00zł
254.15zł
Podstawy miernictwa 44.10zł
Podstawy miernictwa

Autor: Janusz Piotrowski

ISBN: 83-204-2724-X

Ilość stron: 322

Data wydania: 2002

Pierwszy - jak dotychczas - podręcznik traktujący o podstawach miernictwa w sposób nowoczesny oraz zgodny z tendencjami rozwojowymi w omawianym przedmiocie. Kolejne rozdziały poświęcono: wielkościom i sygnałom pomiarowym, przetwornikom i przyrządom, procedurom pomiarowym i rachunkowi błędów, czujnikom, sieciom pomiarowym, interfejsom, oprogramowaniu systemów pomiarowych.

Książka "Podstawy miernictwa" jest przeznaczona dla studentów wydziałów: elektrycznego,elektroniki,automatyki i robotyki.

Rozdziały:

1. POJĘCIA PODSTAWOWE
1.1. Obiekty pomiaru
1.2. Pomiar
1.3. Wzorce i ich charakterystyki
1.4. BŁędy
1.5. Opis działania przyrządów pomiarowych
1.6. Oddziaływanie przyrządu na wielkość mierzoną
1.7. Procedury pomiarowe

2. WIELKOŚCI I SYGNAŁY POMIAROWE
2.1. Charakterystyki statyczne wielkości
2.2. Parametry charakteryzujące czasowy przebieg wielkości
2.3. Modulacja i kodowanie sygnałów
2.4. Próbkowanie i kwantowanie sygnału

3. CHARAKTERYSTYKI PRZETWORNIKÓW I PRZYRZĄDÓW POMIAROWYCH
3.1. Rodzaje przyrządów pomiarowych
3.2. Charakterystyki statyczne przyrządów i przetworników pomiarowych
3.3. Charakterystyki dynamiczne przetworników liniowych
3.4. Charakterystyki przetworników nieliniowych
3.5. Stopień zliczania
3.6. Przetworniki cyfrowo-analogowe kompensacyjne
3.7. Przetworniki analogowo-cyfrowe całkujące
3.9. Sposoby zmniejszenia błędu kwantowania

4. PROCEDURY POMIAROWE I RACHUNEK BŁĘDÓW
4.1. Definicje i źródła błędów
4.2. Wzorcowanie i błąd wzorcowania
4.3. Wyznaczanie błędu podstawowego w bezpośredniej metodzie wzorcowania
4.4. Błędy pomiarów pośrednich
4.5. Błędy metod pomiarowych
4.6. Definicje błęsdu dynamicznego
4.7. Błędy dodatkowe
4.8. Procedury i błędy pomiaru wartości stałej

5. PRZETWORNIKI I PRZYRZĄDY POMIAROWE WIELKOŚCI ELEKTRYCZNYCH
5.1. Układy pomiarowe do przetworników A/C napięcia
5.2. Przetworniki napięcia przemiennego w napięcie stałe
5.3. Woltomierze i multimetry
5.4. Częstościomierze i czsomierze
5.5. Oscyloskopy elektroniczne
5.6.Mostki prądu stałego i zmiennego

6. CZUJNIKI POMIAROWE WIELKOŚCINIEELEKTRYCZNYCH
6.1. Czujniki temperatury
6.2. Tensometryczne czujniki odkształceń
6.3. Czujniki ciśnienia
6.4. Czujniki jonoselektywne
6.5. czujniki elektrokonduktometryczne
6.6. Czujniki wilgotności powietrza
6.7. Czujniki przyspieszenia

7. SIECI I SYSTEMY POMIAROWE

Dodatek. Prawne aspekty miar
Literatura
Skorowidz

Podstawy miernictwa
--- Pozycja niedostępna.---
Klienci, którzy kupili „Podstawy miernictwa”, kupili także:

Język C dla mikrokontrolerów AVR Od podstaw do zaawansowanych aplikacji Wydanie II, Tomasz Francuz, Wydawnictwo Helion

Niskobudżetowy startup Zyskowny biznes i życie bez frustracji, Chris Guillebeau, Wydawnictwo Helion
<b>Sztuczna inteligencja. Nowe spojrzenie. Wydanie IV. Tom 1</b>, <font color="navy">Stuart Russell, Peter Norvig</font>, <font color="green"> Wydawnictwo Helion</font>
Sztuczna inteligencja. Nowe spojrzenie. Wydanie IV. Tom 1, Stuart Russell, Peter Norvig, Wydawnictwo Helion

Matematyka część 4 Równania różniczkowe Funkcje zmiennej zespolonej Przekształcenia całkowe, Wojciech Żakowski, Wacław Leksiński, Wydawnictwo Naukowe PWN

JavaScript Nieoficjalny podręcznik, David Sawyer McFarland, Wydawnictwo Helion
<b>Elementarna teoria liczb Wydanie II</b>, <font color="navy">Wacław Marzantowicz, Piotr Zarzycki</font>, <font color="green"> Wydawnictwo Naukowe PWN</font>
Elementarna teoria liczb Wydanie II, Wacław Marzantowicz, Piotr Zarzycki, Wydawnictwo Naukowe PWN

Nowa era innowacji, C.K. Prahalad, M.S. Krishnan, Wydawnictwo Naukowe PWN

Elementarne wprowadzenie do szczególnej teorii względności nieco... inaczej E=mc2, Józef Gelbard, Wydawnictwo Poligraf

Jak założyć skuteczny i dochodowy sklep internetowy Kolejna odsłona, Wojciech Kyciak, Wydawnictwo Helion

czwartek, 25 kwietnia 2024   Mapa strony |  Nowości |  Dzisiejsze promocje |  Koszty wysyłki |  Kontakt z nami