Zaawansowane wyszukiwanie
  Strona Główna » Sklep » DTP Design » Moje Konto  |  Zawartość Koszyka  |  Do Kasy   
 Wybierz kategorię
Algorytmy Wzorce UML
Bazy danych
Bezpieczeństwo
Bioinformatyka
Biznes Ekonomia Firma
Chemia
DTP Design
E-biznes
Ekonometria
Elektronika Elektrotechnika
Energetyka
Fizyka
GIS
Grafika użytkowa
Hardware
Informatyczne systemy zarządzania
Informatyka w szkole
Internet
Języki programowania
Matematyka
Multimedia
Obsługa komputera
Office
Poradniki
Programowanie gier
Programy inżynierskie
Programy matematyczne
Serwery
Sieci Firewalle Protokoły
Słowniki
Systemy operacyjne
Technika
Telekomunikacja
Tworzenie stron WWW

Zobacz pełny katalog »
 Wydawnictwo:
 APN Promise
Egzamin 70-742: Tożsamość w Windows Server 2016

Egzamin 70-742: Tożsamość w Windows Server 2016

98.70zł
78.96zł
Ogólnopolskie Wystawy Znaków Graficznych 49.00zł 41.16zł
Ogólnopolskie Wystawy Znaków Graficznych

Tytuł: Ogólnopolskie Wystawy Znaków Graficznych
Autor: Wawrzkiewicz Rene, Hardziej Patryk
ISBN: 978-83-65271-09-9
Ilość stron: 256
Data wydania: 04/2016
Oprawa: Miękka
Format: 24.0x16.1
Wydawnictwo: Karakter
Cena: 49.00zł 41.16zł


Blisko siedemset najlepszych polskich logotypów – tak z okresu PRL-u, jak i współczesnych!

Logo to jeden z podstawowych elementów komunikacji wizualnej. Abstrakcyjne symbole, plastyczne metafory i graficzne skróty są jak litery graficznego systemu językowego, w którym jak w soczewce skupia się historia danego społeczeństwa i kraju.

Ta książka to przegląd najwybitniejszych dokonań polskich twórców w dziedzinie projektowania logo, a zarazem konfrontacja prac powstałych blisko pół wieku temu z tymi używanymi obecnie. Książka składa się z dwóch części; każda zawiera 335 znaków graficznych. Pierwsza część to ikoniczne projekty z lat 1945–1969 (m.in. CPN-u, Mody Polskiej, PKO BP), natomiast druga przedstawia współczesne znaki, powstałe w latach 2000–2015. Razem tworzą unikatową całość, wyjątkową prezentację rozmaitych form, jakie przybiera polskie logo.

Rene Wawrzkiewicz – projektant, researcher, kurator wystaw poświęconych dizajnowi. Absolwent Akademii Sztuk Pięknych w Warszawie. Organizator projektów poświęconych projektowaniu zaangażowanemu społecznie. Kurator 2. Ogólnopolskiej Wystawy Znaków Graficznych. Współzałożyciel Pracowni Krytyki Dizajnu – pierwszego polskiego think tanku zajmującego się kulturą dizajnu w Europie Środkowej. Mieszka w Warszawie.

Patryk Hardziej – ilustrator i projektant grafik. Wykonuje projekty z zakresu ilustracji, brandingu, projektowania logo, komunikacji wizualnej, grafiki edytorskiej, a także projekty artystyczne. Mieszka w Gdańsku. Pomysłodawca i kurator 2. Ogólnopolskiej Wystawy Znaków Graficznych.

Ogólnopolskie Wystawy Znaków Graficznych
Tytuł książki: "Ogólnopolskie Wystawy Znaków Graficznych"
Autor: Wawrzkiewicz Rene, Hardziej Patryk
Wydawnictwo: Karakter
Cena: 49.00zł 41.16zł
Klienci, którzy kupili „Ogólnopolskie Wystawy Znaków Graficznych”, kupili także:
<b>Windows 8.1 Krok po kroku</b>, <font color="navy">Ciprian Adrian Rusen, Joli Ballew</font>, <font color="green"> Wydawnictwo Microsoft Press</font>
Windows 8.1 Krok po kroku, Ciprian Adrian Rusen, Joli Ballew, Wydawnictwo Microsoft Press
<b>Multimedia w Linuksie praktyczne rozwiązania</b>, <font color="navy">Kyle Rankin</font>, <font color="green"> Wydawnictwo HELION</font>
Multimedia w Linuksie praktyczne rozwiązania, Kyle Rankin, Wydawnictwo HELION
<b>Naucz się z nami Windows XP samuczek/kurs dla nieinformatyków</b>, <font color="navy">Praca zbiorowa</font>, <font color="green"> Wydawnictwo HELP</font>
Naucz się z nami Windows XP samuczek/kurs dla nieinformatyków, Praca zbiorowa, Wydawnictwo HELP
<b>Lean dla bystrzaków. Wydanie II</b>, <font color="navy">Natalie J. Sayer, Bruce Williams</font>, <font color="green"> Wydawnictwo Septem</font>
Lean dla bystrzaków. Wydanie II, Natalie J. Sayer, Bruce Williams, Wydawnictwo Septem
<b>C# Programowanie Wydanie VI</b>, <font color="navy">Ian Griffiths, Matthew Adams, Jesse Liberty</font>, <font color="green"> Wydawnictwo HELION</font>
C# Programowanie Wydanie VI, Ian Griffiths, Matthew Adams, Jesse Liberty, Wydawnictwo HELION
<b>SWiSHmax ćwiczenia</b>, <font color="navy">Paweł Lenar</font>, <font color="green"> Wydawnictwo HELION</font>
SWiSHmax ćwiczenia, Paweł Lenar, Wydawnictwo HELION
<b>Zawód tester Od decyzji do pierwszych kroków w pracy</b>, <font color="navy">Radosław Smilgin</font>, <font color="green"> Wydawnictwo Naukowe PWN</font>
Zawód tester Od decyzji do pierwszych kroków w pracy, Radosław Smilgin, Wydawnictwo Naukowe PWN
<b>Zadbaj o mózg</b>, <font color="navy">Daniel G. Amen</font>, <font color="green"> Wydawnictwo Rebis</font>
Zadbaj o mózg, Daniel G. Amen, Wydawnictwo Rebis
<b>Diagnostyka procesów Modele Metody sztucznej inteligencji Zastosowania</b>, <font color="navy">Praca zbiorowa</font>, <font color="green"> Wydawnictwo WNT</font>
Diagnostyka procesów Modele Metody sztucznej inteligencji Zastosowania, Praca zbiorowa, Wydawnictwo WNT
 Koszyk
0 przedmiotów
Producent
Tu można zobaczyć wszystkie książki z wydawnictwa:

Wydawnictwo Karakter
 Kategoria:
 Matematyka
W poszukiwaniu zera. Matematyczna odyseja do źródła pochodzenia liczb

W poszukiwaniu zera. Matematyczna odyseja do źródła pochodzenia liczb

39.90zł
31.92zł
Informacje
Regulamin sklepu.
Koszty wysyłki.
Polityka prywatności.
Jak kupować?
Napisz do Nas.
 Wydawnictwa
 Poradniki
JUnit pragmatyczne testy jednostkowe w Javie Andy Hunt, Dave Thomas HELION
Rootkity Sabotowanie jądra systemu Windows Greg Hoglund, Jamie Butler HELION
Podstawy fizyki Tom 1 Wydanie 2 David Halliday, Robert Resnick, Jearl Walker Naukowe PWN
RTLinux System czasu rzeczywistego Kazimierz Lal, Tomasz Rak, Krzysztof Orkisz HELION
Blender Podstawy modelowania Bogdan Bociek HELION
AVR Praktyczne projekty Tomasz Francuz HELION
Solid Edge 8/9 Grzegorz Kazimierczak HELION
Ubuntu Serwer Oficjalny podręcznik Wydanie II Kyle Rankin, Benjamin Mako Hill HELION
Język UML 2.0 w modelowaniu systemów informatycznych Stanisław Wrycza, Bartosz Marcinkowski, Krzysztof Wyrzykowski HELION

środa, 26 wrzesień 2018   Mapa strony |  Nowości |  Dzisiejsze promocje |  Koszty wysyłki |  Kontakt z nami