Zaawansowane wyszukiwanie
  Strona Główna » Sklep » Technika » Technika pomiarowa » Moje Konto  |  Zawartość Koszyka  |  Do Kasy   
 Wybierz kategorię
Algorytmy Wzorce UML
Bazy danych
Bezpieczeństwo
Bioinformatyka
Biznes Ekonomia Firma
Chemia
DTP Design
E-biznes
Ekonometria
Elektronika Elektrotechnika
Energetyka
Fizyka
GIS
Grafika użytkowa
Hardware
Informatyczne systemy zarządzania
Informatyka w szkole
Języki programowania
Matematyka
Multimedia
Obsługa komputera
Office
Poradniki
Programowanie gier
Programy inżynierskie
Programy matematyczne
Słowniki
Serwery
Sieci komputerowe
Systemy operacyjne
Technika
  Aranżacja wnętrz
  Automatyka Robotyka
  Budowa maszyn
  Budownictwo
  Budownictwo lądowe
  Geologia Hydrologia
  Materiały inżynierskie
  Motoryzacja
  Ochrona środowiska
  Ogrzewanie Klimatyzacja
  Przemysł spożywczy
  Rysunek techniczny
  Spawalnictwo
  Technika
  Technika pomiarowa
  Technika wojskowa
  Tworzywa sztuczne
  Zarządzanie jakością
Telekomunikacja
Tworzenie stron WWW

Zobacz pełny katalog »
 Wydawnictwo:
 PWN
Scrum Czyli jak robić dwa razy więcej dwa razy szybciej

Scrum Czyli jak robić dwa razy więcej dwa razy szybciej

59.90zł
Metrologia wielkości geometrycznych Wydanie V 69.00zł
Metrologia wielkości geometrycznych Wydanie V

Tytuł: Metrologia wielkości geometrycznych Wydanie V
Autor: Władysław Jakubiec, Jan Malinowski
ISBN: 978-83-01-19815-2
Ilość stron: 520
Data wydania: 02/2020 (wydanie 5, dodruk)
Oprawa: Miękka
Format: 16.5x23.5cm
Wydawnictwo: Naukowe PWN
Cena: 69.00zł


Sprostanie w zakresie pomiarów wymaganiom systemów zarządzania jakością to wielkie wyzwanie dla dzisiejszych producentów. W szczególności ważny jest właściwy dobór przyrządów, zastosowanie właściwej strategii pomiaru oraz odpowiednie użytkowanie i nadzorowanie przyrządów.

W książce przedstawiono obecny stan wiedzy w dziedzinie przyrządów i technik pomiarowych stosowanych w metrologii długości i kąta. Dużo uwagi poświęcono powszechnie stosowanej współrzędnościowej technice pomiarowej, pomiarom chropowatości i pomiarom gwintów.

W zakresie terminologii oraz w tematyce błędów i niepewności pomiaru uwzględniono najnowsze zalecenia zawarte w dokumentach ISO. Omówiono zagadnienia nadzorowania przyrządów pomiarowych.

W dodatku do książki znalazło się 121 kolorowych ilustracji, na których przedstawiono aktualnie produkowane przyrządy pomiarowe oraz przykłady opracowania wyników pomiarów.

Książka jest przeznaczona dla studentów wydziałów mechanicznych, inżynierii produkcji i pokrewnych wyższych uczelni technicznych, a także dla osób zajmujących się metrologią i jakością w budowie maszyn.

Spis treści:

1. Wiadomości ogólne
1.1. Metrologia i jej podział
1.2. Metrologia wielkości geometrycznych, jej przedmiot i zadania
1.3. Jednostka miary długości
1.4. Jednostka miary kąta płaskiego
1.5. Matematyka w metrologii wielkości geometrycznych
1.6. Podstawy cyfrowej techniki pomiarowej

2. Błędy pomiarów
2.1. Jakościowa i ilościowa definicja błędu pomiaru
2.2. Błędy systematyczne
2.3. Błędy przypadkowe
2.4. Wyznaczanie niepewności pomiaru
2.5. Błędy nadmierne
2.6. Opracowanie wyniku pomiaru

3. Klasyfikacja i właściwości metrologiczne przyrządów pomiarowych i wzorców miar
3.1. Klasyfikacja przyrządów pomiarowych i wzorców miar
3.2. Najważniejsze właściwości i charakterystyki przyrządów pomiarowych

4. Wzorce długości i kąta
4.1. Klasyfikacja wzorców miar długości
4.2. Wzorce kreskowe i końcowo-kreskowe
4.3. Inkrementalne układy pomiarowe długości
4.4. Układy bezwzględne
4.5. Wzorce końcowe
4.6. Wzorce falowe
4.7. Wzorce kreskowe kąta
4.8. Inkrementalne układy pomiarowe kąta
4.9. Kodowe układy pomiarowe kąta
4.10. Wzorce końcowe kąta

5. Przyrządy suwmiarkowe, mikrometryczne i czujniki
5.1. Przyrządy suwmiarkowe
5.2. Przyrządy mikrometryczne
5.3. Czujniki
5.4. Mechanizacja i automatyzacja pomiarów

6. Maszyny pomiarowe
6.1. Wiadomości wstępne
6.2. Długościomierze i wysokościomierze
6.3. Optoelektroniczne przyrządy pomiarowe
6.4. Mikroskopy pomiarowe i projektory

7. Interferometry
7.1. Wiadomości wstępne
7.2. Interferometry laserowe

8. Nadzorowanie przyrządów pomiarowych i obrabiarek
8.1. Wiadomości wstępne
8.2. Sprawdzanie prostych przyrządów pomiarowych
8.3. Sprawdzanie współrzędnościowych maszyn pomiarowych
8.4. Sprawdzanie innych przyrządów pomiarowych
8.5. Oprogramowanie wspomagające nadzorowanie przyrządów pomiarowych
8.6. Nadzorowanie obrabiarek

9. Dobór przyrządów pomiarowych i reguły orzekania zgodności i niezgodności z tolerancją (ze specyfikacją)
9.1. Postępowanie pomiarowe
9.2. Metody pomiarowe
9.3. Zasada pomiaru
9.4. Dobór przyrządów pomiarowych
9.5. Niepewność pomiaru a tolerancja wymiaru

10. Pomiary wałków, otworów, wymiarów mieszanych i pośrednich
10.1. Wiadomości wstępne
10.2. Modele opisu postaci geometrycznej wyrobu
10.3. Układ tolerancji wałków i otworów
10.4. Zasady tolerowania
10.5. Wymiarowanie i tolerowanie wektorowe
10.6. Pomiary przyrządami suwmiarkowymi
10.7. Pomiary przyrządami mikrometrycznymi
10.8. Pomiary czujnikami
10.9. Pomiary długościomierzami uniwersalnymi i pionowymi
10.10. Pomiary mikroskopami pomiarowymi
10.11. Sprawdziany

11. Pomiary kątów i stożków
11.1. Układ tolerancji kątów
11.2. Układ tolerancji i pasowań stożków
11.3. Pomiary kątów
11.4. Pomiary stożków

12.  Współrzędnościowe maszyny pomiarowe
12.1. Wiadomości wstępne
12.2. Współrzędnościowa technika pomiarowa
12.3. Budowa współrzędnościowych maszyn pomiarowych
12.4. Struktura mechaniczna
12.5. Zespół głowicy pomiarowej
12.6. Wyposażenie maszyn pomiarowych
12.7. Komputer i oprogramowanie pomiarowe
12.8. Strategia pomiaru
12.9. Dokładność maszyn pomiarowych
12.10. Przykłady maszyn pomiarowych

13. Pomiary odchyłek geometrycznych
13.1. Tolerancje geometryczne
13.2. Ogólne zasady pomiarów odchyłek geometrycznych
13.3. Pomiary odchyłki prostoliniowości
13.4. Pomiary odchyłki płaskości
13.5. Pomiary odchyłki kształtu kuli
13.6. Pomiary odchyłki okrągłości
13.7. Pomiary odchyłki walcowości
13.8. Pomiary odchyłek geometrycznych współrzędnościowymi maszynami pomiarowymi
13.9. Sprawdziany kierunku, położenia i prostoliniowości osi

14. Pomiary chropowatości i falistości powierzchni
14.1. Wiadomości wstępne
14.2. Pojęcia podstawowe
14.3. Parametry profilu, chropowatości i falistości powierzchni
14.4. Oznaczanie chropowatości i falistości powierzchni na rysunkach
14.5. Klasyfikacja pomiarów chropowatości i falistości powierzchni
14.6. Pomiary stykowe przy użyciu profilometrów
14.7. Pomiary profilometryczne wiązką zogniskowaną
14.8. Pomiary optyczne metodą przekroju świetlnego
14.9. Pomiary interferencyjne
14.10. Pomiary przez porównanie z wzorcami chropowatości powierzchni obrabianych
14.11. Inne metody pomiaru chropowatości powierzchni

15. Pomiary gwintów
15.1. Układ tolerancji i pasowań gwintów metrycznych walcowych
15.2. Pomiary gwintów walcowych zewnętrznych o zarysie symetrycznym
15.3. Pomiary gwintów walcowych wewnętrznych
15.4. Pomiary gwintów walcowych symetrycznych ogólnego przeznaczenia
15.5. Pomiary gwintów stożkowych o zarysie symetrycznym względem prostopadłej
15.6. Pomiary gwintów stożkowych o zarysie symetrycznym względem prostopadłej
15.7. Pomiary gwintów współrzędnościowymi maszynami pomiarowymi

16. Pomiary kół zębatych
16.1. Parametry opisujące postać konstrukcyjną koła zębatego
16.2. Definicje i pomiary wybranych odchyłek kół zębatych
16.3. Układ tolerancji przekładni i kół zębatych

17. Metody statystyczne w zapewnieniu jakości
17.1. Wiadomości wstępne
17.2. Karty kontrolne
17.3. Karty kontrolne Shewarta
17.4. Zmienność własna i całkowita procesu
17.5. Środki techniczne statystycznego sterowania procesem

Metrologia wielkości geometrycznych Wydanie V
Tytuł książki: "Metrologia wielkości geometrycznych Wydanie V"
Autor: Władysław Jakubiec, Jan Malinowski
Wydawnictwo: Naukowe PWN
Cena: 69.00zł
Klienci, którzy kupili „Metrologia wielkości geometrycznych Wydanie V”, kupili także:

Gra o Juliana Wydanie II, Adele Griffin, Wydawnictwo Amber

Konstrukcje metalowe Tom 1 Podstawy projektowania, Mieczysław Łubiński, Andrzej Filipowicz, Wojciech Żołtowski, Wydawnictwo Arkady

Lutowanie bezołowiowe, Krystyna Bukat, Halina Hackiewicz, Wydawnictwo BTC
<b>Rootkity i bootkity Zwalczanie współczesnego złośliwego oprogramowania i zagrożeń nowej generacj</b>, <font color="navy">Alex Matrosov, Eugene Rodionov, Sergey Bratus</font>, <font color="green"> Wydawnictwo Naukowe PWN</font>
Rootkity i bootkity Zwalczanie współczesnego złośliwego oprogramowania i zagrożeń nowej generacj, Alex Matrosov, Eugene Rodionov, Sergey Bratus, Wydawnictwo Naukowe PWN

Czego nie można kupić za pieniądze? Moralne granice rynku, Michael J. Sandel, Wydawnictwo Naukowe PWN

Istota języka C++ Zwięzły opis, Stanley B. Lippman, Wydawnictwo WNT
<b>Przetwarzanie języka naturalnego w praktyce. Przewodnik po budowie rzeczywistych systemów NLP</b>, <font color="navy">Sowmya Vajjala, Bodhisattwa Majumder, Anuj Gupta, Harshit Surana Data</font>, <font color="green"> Wydawnictwo Helion</font>
Przetwarzanie języka naturalnego w praktyce. Przewodnik po budowie rzeczywistych systemów NLP, Sowmya Vajjala, Bodhisattwa Majumder, Anuj Gupta, Harshit Surana Data, Wydawnictwo Helion

Sieci komputerowe. Najczęstsze problemy i ich rozwiązania, Russ White, Ethan Banks, Wydawnictwo Helion

Nowoczesna kryptografia Praktyczne wprowadzenie do szyfrowania, Jean-Philippe Aumasson, Wydawnictwo Naukowe PWN

wtorek, 19 marca 2024   Mapa strony |  Nowości |  Dzisiejsze promocje |  Koszty wysyłki |  Kontakt z nami