Zaawansowane wyszukiwanie
  Strona Główna » Sklep » Technika » Technika pomiarowa » Moje Konto  |  Zawartość Koszyka  |  Do Kasy   
 Wybierz kategorię
Algorytmy Wzorce UML
Bazy danych
Bezpieczeństwo
Bioinformatyka
Biznes Ekonomia Firma
Chemia
DTP Design
E-biznes
Ekonometria
Elektronika Elektrotechnika
Energetyka
Fizyka
GIS
Grafika użytkowa
Hardware
Informatyczne systemy zarządzania
Informatyka w szkole
Internet
Języki programowania
Matematyka
Multimedia
Obsługa komputera
Office
Poradniki
Programowanie gier
Programy inżynierskie
Programy matematyczne
Serwery
Sieci Firewalle Protokoły
Słowniki
Systemy operacyjne
Technika
  Aranżacja wnętrz
  Automatyka Robotyka
  Budowa maszyn
  Budownictwo
  Budownictwo lądowe
  Geologia Hydrologia
  Materiały inżynierskie
  Motoryzacja
  Ochrona środowiska
  Ogrzewanie Klimatyzacja
  Przemysł spożywczy
  Rysunek techniczny
  Spawalnictwo
  Technika
  Technika pomiarowa
  Technika wojskowa
  Tworzywa sztuczne
  Zarządzanie jakością
Telekomunikacja
Tworzenie stron WWW

Zobacz pełny katalog »
 Wydawnictwo:
 Difin
Energia Zasoby, procesy, technologie, rynki, transformacje, modele biznesowe, planowanie rozwoju

Energia Zasoby, procesy, technologie, rynki, transformacje, modele biznesowe, planowanie rozwoju

55.00zł
46.75zł
Metrologia wielkości geometrycznych Wydanie V 69.00zł 51.75zł
Metrologia wielkości geometrycznych Wydanie V

Tytuł: Metrologia wielkości geometrycznych Wydanie V
Autor: Władysław Jakubiec, Jan Malinowski
ISBN: 978-83-01-19815-2
Ilość stron: 488
Data wydania: 03/2018 (wydanie 5)
Oprawa: Miękka
Format: 16.5x23.5cm
Wydawnictwo: Naukowe PWN
Cena: 69.00zł 51.75zł


Sprostanie w zakresie pomiarów wymaganiom systemów zarządzania jakością to wielkie wyzwanie dla dzisiejszych producentów. W szczególności ważny jest właściwy dobór przyrządów, zastosowanie właściwej strategii pomiaru oraz odpowiednie użytkowanie i nadzorowanie przyrządów.

W książce przedstawiono obecny stan wiedzy w dziedzinie przyrządów i technik pomiarowych stosowanych w metrologii długości i kąta. Dużo uwagi poświęcono powszechnie stosowanej współrzędnościowej technice pomiarowej, pomiarom chropowatości i pomiarom gwintów.

W zakresie terminologii oraz w tematyce błędów i niepewności pomiaru uwzględniono najnowsze zalecenia zawarte w dokumentach ISO. Omówiono zagadnienia nadzorowania przyrządów pomiarowych.

W dodatku do książki znalazło się 121 kolorowych ilustracji, na których przedstawiono aktualnie produkowane przyrządy pomiarowe oraz przykłady opracowania wyników pomiarów.

Książka jest przeznaczona dla studentów wydziałów mechanicznych, inżynierii produkcji i pokrewnych wyższych uczelni technicznych, a także dla osób zajmujących się metrologią i jakością w budowie maszyn.

Spis treści:

1. Wiadomości ogólne
1.1. Metrologia i jej podział
1.2. Metrologia wielkości geometrycznych, jej przedmiot i zadania
1.3. Jednostka miary długości
1.4. Jednostka miary kąta płaskiego
1.5. Matematyka w metrologii wielkości geometrycznych
1.6. Podstawy cyfrowej techniki pomiarowej

2. Błędy pomiarów
2.1. Jakościowa i ilościowa definicja błędu pomiaru
2.2. Błędy systematyczne
2.3. Błędy przypadkowe
2.4. Wyznaczanie niepewności pomiaru
2.5. Błędy nadmierne
2.6. Opracowanie wyniku pomiaru

3. Klasyfikacja i właściwości metrologiczne przyrządów pomiarowych i wzorców miar
3.1. Klasyfikacja przyrządów pomiarowych i wzorców miar
3.2. Najważniejsze właściwości i charakterystyki przyrządów pomiarowych

4. Wzorce długości i kąta
4.1. Klasyfikacja wzorców miar długości
4.2. Wzorce kreskowe i końcowo-kreskowe
4.3. Inkrementalne układy pomiarowe długości
4.4. Układy bezwzględne
4.5. Wzorce końcowe
4.6. Wzorce falowe
4.7. Wzorce kreskowe kąta
4.8. Inkrementalne układy pomiarowe kąta
4.9. Kodowe układy pomiarowe kąta
4.10. Wzorce końcowe kąta

5. Przyrządy suwmiarkowe, mikrometryczne i czujniki
5.1. Przyrządy suwmiarkowe
5.2. Przyrządy mikrometryczne
5.3. Czujniki
5.4. Mechanizacja i automatyzacja pomiarów

6. Maszyny pomiarowe
6.1. Wiadomości wstępne
6.2. Długościomierze i wysokościomierze
6.3. Optoelektroniczne przyrządy pomiarowe
6.4. Mikroskopy pomiarowe i projektory

7. Interferometry
7.1. Wiadomości wstępne
7.2. Interferometry laserowe

8. Nadzorowanie przyrządów pomiarowych i obrabiarek
8.1. Wiadomości wstępne
8.2. Sprawdzanie prostych przyrządów pomiarowych
8.3. Sprawdzanie współrzędnościowych maszyn pomiarowych
8.4. Sprawdzanie innych przyrządów pomiarowych
8.5. Oprogramowanie wspomagające nadzorowanie przyrządów pomiarowych
8.6. Nadzorowanie obrabiarek

9. Dobór przyrządów pomiarowych i reguły orzekania zgodności i niezgodności z tolerancją (ze specyfikacją)
9.1. Postępowanie pomiarowe
9.2. Metody pomiarowe
9.3. Zasada pomiaru
9.4. Dobór przyrządów pomiarowych
9.5. Niepewność pomiaru a tolerancja wymiaru

10. Pomiary wałków, otworów, wymiarów mieszanych i pośrednich
10.1. Wiadomości wstępne
10.2. Modele opisu postaci geometrycznej wyrobu
10.3. Układ tolerancji wałków i otworów
10.4. Zasady tolerowania
10.5. Wymiarowanie i tolerowanie wektorowe
10.6. Pomiary przyrządami suwmiarkowymi
10.7. Pomiary przyrządami mikrometrycznymi
10.8. Pomiary czujnikami
10.9. Pomiary długościomierzami uniwersalnymi i pionowymi
10.10. Pomiary mikroskopami pomiarowymi
10.11. Sprawdziany

11. Pomiary kątów i stożków
11.1. Układ tolerancji kątów
11.2. Układ tolerancji i pasowań stożków
11.3. Pomiary kątów
11.4. Pomiary stożków

12.  Współrzędnościowe maszyny pomiarowe
12.1. Wiadomości wstępne
12.2. Współrzędnościowa technika pomiarowa
12.3. Budowa współrzędnościowych maszyn pomiarowych
12.4. Struktura mechaniczna
12.5. Zespół głowicy pomiarowej
12.6. Wyposażenie maszyn pomiarowych
12.7. Komputer i oprogramowanie pomiarowe
12.8. Strategia pomiaru
12.9. Dokładność maszyn pomiarowych
12.10. Przykłady maszyn pomiarowych

13. Pomiary odchyłek geometrycznych
13.1. Tolerancje geometryczne
13.2. Ogólne zasady pomiarów odchyłek geometrycznych
13.3. Pomiary odchyłki prostoliniowości
13.4. Pomiary odchyłki płaskości
13.5. Pomiary odchyłki kształtu kuli
13.6. Pomiary odchyłki okrągłości
13.7. Pomiary odchyłki walcowości
13.8. Pomiary odchyłek geometrycznych współrzędnościowymi maszynami pomiarowymi
13.9. Sprawdziany kierunku, położenia i prostoliniowości osi

14. Pomiary chropowatości i falistości powierzchni
14.1. Wiadomości wstępne
14.2. Pojęcia podstawowe
14.3. Parametry profilu, chropowatości i falistości powierzchni
14.4. Oznaczanie chropowatości i falistości powierzchni na rysunkach
14.5. Klasyfikacja pomiarów chropowatości i falistości powierzchni
14.6. Pomiary stykowe przy użyciu profilometrów
14.7. Pomiary profilometryczne wiązką zogniskowaną
14.8. Pomiary optyczne metodą przekroju świetlnego
14.9. Pomiary interferencyjne
14.10. Pomiary przez porównanie z wzorcami chropowatości powierzchni obrabianych
14.11. Inne metody pomiaru chropowatości powierzchni

15. Pomiary gwintów
15.1. Układ tolerancji i pasowań gwintów metrycznych walcowych
15.2. Pomiary gwintów walcowych zewnętrznych o zarysie symetrycznym
15.3. Pomiary gwintów walcowych wewnętrznych
15.4. Pomiary gwintów walcowych symetrycznych ogólnego przeznaczenia
15.5. Pomiary gwintów stożkowych o zarysie symetrycznym względem prostopadłej
15.6. Pomiary gwintów stożkowych o zarysie symetrycznym względem prostopadłej
15.7. Pomiary gwintów współrzędnościowymi maszynami pomiarowymi

16. Pomiary kół zębatych
16.1. Parametry opisujące postać konstrukcyjną koła zębatego
16.2. Definicje i pomiary wybranych odchyłek kół zębatych
16.3. Układ tolerancji przekładni i kół zębatych

17. Metody statystyczne w zapewnieniu jakości
17.1. Wiadomości wstępne
17.2. Karty kontrolne
17.3. Karty kontrolne Shewarta
17.4. Zmienność własna i całkowita procesu
17.5. Środki techniczne statystycznego sterowania procesem

Metrologia wielkości geometrycznych Wydanie V
Tytuł książki: "Metrologia wielkości geometrycznych Wydanie V"
Autor: Władysław Jakubiec, Jan Malinowski
Wydawnictwo: Naukowe PWN
Cena: 69.00zł 51.75zł
Klienci, którzy kupili „Metrologia wielkości geometrycznych Wydanie V”, kupili także:
<b>Dysponowanie wspólnymi zasobami</b>, <font color="navy">Elinor Ostrom</font>, <font color="green"> Wydawnictwo Wolters Kluwer</font>
Dysponowanie wspólnymi zasobami, Elinor Ostrom, Wydawnictwo Wolters Kluwer
<b>Chiński dla bystrzaków</b>, <font color="navy">Wendy Abraham</font>, <font color="green"> Wydawnictwo Septem</font>
Chiński dla bystrzaków, Wendy Abraham, Wydawnictwo Septem
<b>Wytrzymałość materiałów Tom 1 + Tom 2 KOMPLET</b>, <font color="navy">Zdzisław Dyląg, Antoni Jakubowicz, Zbigniew Orłoś</font>, <font color="green"> Wydawnictwo WNT</font>
Wytrzymałość materiałów Tom 1 + Tom 2 KOMPLET, Zdzisław Dyląg, Antoni Jakubowicz, Zbigniew Orłoś, Wydawnictwo WNT
<b>Biznesowy savoir - vivre Wszystko, co szanujący się biznesmen o etykiecie wiedzieć powinien</b>, <font color="navy">Barbara Pachter</font>, <font color="green"> Wydawnictwo Onepress</font>
Biznesowy savoir - vivre Wszystko, co szanujący się biznesmen o etykiecie wiedzieć powinien, Barbara Pachter, Wydawnictwo Onepress
<b>Roboty przemysłowe Budowa i zastosowanie Wydanie 2</b>, <font color="navy">Jerzy Honczarenko</font>, <font color="green"> Wydawnictwo WNT</font>
Roboty przemysłowe Budowa i zastosowanie Wydanie 2, Jerzy Honczarenko, Wydawnictwo WNT
<b>Sesje twórczej pomysłowości dla pedagogów, psychologów i trenerów grupowych</b>, <font color="navy">Krzysztof J. Szmidt</font>, <font color="green"> Wydawnictwo Sensus</font>
Sesje twórczej pomysłowości dla pedagogów, psychologów i trenerów grupowych, Krzysztof J. Szmidt, Wydawnictwo Sensus
<b>Ochrona osób i mienia</b>, <font color="navy">Radziejewski Ryszard, Siudalski Stefan Jerzy</font>, <font color="green"> Wydawnictwo BEL Studio</font>
Ochrona osób i mienia, Radziejewski Ryszard, Siudalski Stefan Jerzy, Wydawnictwo BEL Studio
<b>Nowe metody programowania Tom 1</b>, <font color="navy">Krzysztof Barteczko, Wojciech Drabik, Bartłomiej Starosta</font>, <font color="green"> Wydawnictwo PJWSTK</font>
Nowe metody programowania Tom 1, Krzysztof Barteczko, Wojciech Drabik, Bartłomiej Starosta, Wydawnictwo PJWSTK
<b>Microsoft SQL Server 2005 Analysis Services krok po kroku</b>, <font color="navy">Reed Jacobson, Stacia Misner, Hitachi Consulting</font>, <font color="green"> Wydawnictwo Microsoft Press</font>
Microsoft SQL Server 2005 Analysis Services krok po kroku, Reed Jacobson, Stacia Misner, Hitachi Consulting, Wydawnictwo Microsoft Press
 Koszyk
0 przedmiotów
Producent
Tu można zobaczyć wszystkie książki z wydawnictwa:

Wydawnictwo Naukowe PWN
 Kategoria:
 Informatyczne systemy zarzadzania
Insert nexo: Subiekt, Rachmistrz, Rewizor

Insert nexo: Subiekt, Rachmistrz, Rewizor

34.90zł
8.73zł
Informacje
Regulamin sklepu.
Koszty wysyłki.
Polityka prywatności.
Jak kupować?
Napisz do Nas.
 Wydawnictwa
 Poradniki
100 sposobów na tworzenie robotów sieciowych Kevin Hemenway, Tara Calishain HELION
Head First Ajax Edycja polska (Rusz głową) Rebecca Riordan HELION
Podstawy fizyki powierzchni półprzewodników Anna Szaynok, Stanisław Kuźmiński WNT
ArchiCAD 10 Karl Heinz Sperber HELION
Solid Edge Komputerowe wspomaganie projektowania Grzegorz Kazimierczak, Bernard Pacula, Adam Budzyński HELION
AVR Praktyczne projekty Tomasz Francuz HELION
Bezpieczeństwo sieci w Linuksie. Wykrywanie ataków i obrona przed nimi za pomocą iptables, psad i fwsnort Michael Rash HELION
Ekonomia polityczna Unii Europejskiej i jej problemy Kazimierz Tarchalski WNT
Podstawy fizyki Tom 3 Wydanie 2 David Halliday, Robert Resnick, Jearl Walker Naukowe PWN

wtorek, 11 grudzień 2018   Mapa strony |  Nowości |  Dzisiejsze promocje |  Koszty wysyłki |  Kontakt z nami